問題：
在測量運算放大器輸入電容時，應(yīng)關(guān)注哪些方面?
答案：
在ADI看來，必須確保測量精度不受PCB或測試裝置的雜散電容和電感影響。您可以通過使用低電容探頭、在PCB上使用短連接線，并且避免在信號走線下大面積鋪地來盡可能規(guī)避這些問題。
如今，運算放大器已被廣泛用于各種電子電路中。它們用于小電壓的放大，以進一步執(zhí)行信號處理。煙霧探測器、光電二極管跨阻放大器、醫(yī)療器械，甚至工業(yè)控制系統(tǒng)等應(yīng)用都需要盡可能低的運算放大器輸入電容，因為這會影響噪聲增益(Noise Gain)，進而影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性，特別是具有高頻率和高增益的系統(tǒng)。
為了盡可能提高相應(yīng)電路的精度，需要知道運算放大器的輸入電容的大小。但是，數(shù)據(jù)手冊中通常不提供這一信息，所以需要單獨確定。這可能很困難，因為在許多情況下，輸入電容都只有幾pF。
ADI在表1列出了幾個不同的運算放大器示例，及其各自的輸入電容值。
如何確定輸入電容
圖1顯示了確定運算放大器輸入電容的一種簡單方法，即增加一個電阻，與運算放大器輸入串聯(lián)(RSERIES)。這會形成一階低通濾波器，其頻率響應(yīng)可由網(wǎng)絡(luò)分析儀進行記錄。我們可以根據(jù)頻率響應(yīng)計算出輸入電容。電阻RSERIES一般在10kΩ至100kΩ之間。
圖1.在運算放大器輸入端增加串聯(lián)電阻之后，可以測量運算放大器的輸入電容。
在記錄頻率響應(yīng)時，必須確保測量精度不受PCB或測試設(shè)備的雜散電容和雜散電感影響。
為提高測量分辨率，應(yīng)盡可能降低雜散電容。建議使用低電容(<1 pF) FET探頭。
PCB對地電容應(yīng)盡可能低，這可以通過確保信號走線和串聯(lián)電阻下方?jīng)]有接地層來實現(xiàn)。
此外，應(yīng)使用盡可能短的線路和(電阻)引線，以規(guī)避額外的誤差源，例如串聯(lián)電感和寄生電感。
圖2顯示一種可能的測試配置，其中包含網(wǎng)絡(luò)分析儀和功率分配器。
功率分配器負責分割信號。信號1:1原樣饋送至網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端，在通過插入的低通濾波器之后，到達運算放大器的輸入端。然后，網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)這兩個信號之間的差值產(chǎn)生頻率響應(yīng)。
圖2.用于確定運算放大器輸入電容的測試設(shè)置。
要進行測量，需要確定雜散電容CSTRAY。首先，對沒有安裝運算放大器的電路板應(yīng)用該信號進行測量。根據(jù)得到的波特圖，使用公式1計算CSTRAY：
f1(–3dB)是使用網(wǎng)絡(luò)分析儀，在不帶運算放大器時測量得出的–3dB轉(zhuǎn)角頻率，RTH1與插入的串聯(lián)電阻(RSERIES)、輸入端接電阻(50Ω)和功率分配器(Thévenin同等產(chǎn)品)的50Ω源阻抗成函數(shù)關(guān)系：
然后，將運算放大器安裝到PCB上。
由于PCB的雜散電容與運算放大器的輸入電容并聯(lián)，所以在公式1中加入CIN，如公式3所示：
其中，f2(–3dB)是使用網(wǎng)絡(luò)分析儀，在帶有運算放大器時測量得出的–3dB轉(zhuǎn)角頻率，RTH2與插入的串聯(lián)電阻、輸入端接電阻(50Ω)、功率分配器的輸出電阻(50Ω)，以及運算放大器(RCM)的共模輸入阻抗成函數(shù)關(guān)系：
一般來說，對于具有CMOS輸入的運算放大器，RSERIES << RCM。所以，RTH2 ≈ RTH1，公式3可以改寫成公式5：
然后，可以使用公式1和公式5確定運算放大器的輸入電容。
結(jié)論
運算放大器的輸入電容是很難測量的。它通常只有幾pF，并且測試設(shè)置中的寄生效應(yīng)會扭曲測量結(jié)果。不過，ADI認為可以使用小型測試裝置，以及由網(wǎng)絡(luò)分析儀和功率分配器構(gòu)成的適用測量設(shè)備輕松確定輸入電容。首先，確定雜散電容(測試設(shè)置中的誤差電容)，然后，通過頻率響應(yīng)確定運算放大器電路的組合電容(誤差電容和輸入電容)。根據(jù)上述公式，就可以計算運算放大器的實際輸入電容了。
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