泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室再升級,開啟功率器件測試新篇章
● 創(chuàng)新實驗室V2.0設(shè)備再更新、能力再升級;
● 助力產(chǎn)業(yè)升級,主打開放性,先進(jìn)性,本地化協(xié)作共贏;
● 線上線下多元化互動,直擊測試痛點。
2024年5月16日,中國北京——泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室,作為北京先進(jìn)半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的領(lǐng)軍者,今日宣布其實驗室經(jīng)過全面升級后,推出Version 2.0并在京盛大揭幕。泰克科技中國區(qū)分銷業(yè)務(wù)總經(jīng)理宋磊為本次盛會做了開幕致辭,同時我們有幸邀請到了第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟副秘書長高偉博士,中關(guān)村天合寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟副秘書長侯喜峰,國家新能源汽車創(chuàng)新中心功率測試平臺負(fù)責(zé)人郭大銘作為特邀演講嘉賓,泰克科技技術(shù)總監(jiān)張欣也在現(xiàn)場做了精彩分享。泰克的合作伙伴飛仕德、眾力為、歐菲特等更在會上展示了和泰克通力合作,在第三代半導(dǎo)體應(yīng)用上取得的成就。
此次升級不僅是技術(shù)解決方案的飛躍,更是對創(chuàng)新精神的一次深刻體現(xiàn),旨在擴展全面的測試能力,提供一站式解決方案,打造一個開放、協(xié)作、共贏的生態(tài)平臺,攜手用戶共同應(yīng)對新技術(shù)測試的挑戰(zhàn)。
第三代半導(dǎo)體不是一個全新的話題,其蓬勃發(fā)展的態(tài)勢已經(jīng)形成,對應(yīng)的測試需求與日俱增。泰克公司作為測試測量領(lǐng)域的佼佼者,一直致力于提升企業(yè)核心競爭力,創(chuàng)新研發(fā)第三代半導(dǎo)體的測試解決方案。泰克將本土化作為核心競爭力之一,自2022年在中國成立先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室以來,已累計免費為超過300人次提供服務(wù),測試器件種類超過1000種,是國內(nèi)面向第三代半導(dǎo)體功率器件方向,測試能力卓越,綜合能力領(lǐng)先的實驗室;同時也是客戶實測和交流的平臺。
為了更好的銜接客戶測試需求,應(yīng)對新技術(shù)應(yīng)用場景,現(xiàn)在實驗室再次升級,泰克創(chuàng)新實驗室V2.0橫空出世,設(shè)備再更新,能力再升級。此次升級包括了GaN器件開關(guān)測試和動態(tài)導(dǎo)通電阻測試、SiC功率器件的短路測試、雪崩測試,以及更全面的靜態(tài)參數(shù)和電容參數(shù)測試系統(tǒng)。此外,實驗室還引入了全新的面向第三代半導(dǎo)體功率器件的可靠性測試系統(tǒng),以滿足日益增長的測試需求。
泰克創(chuàng)新實驗室致力于打造一個完整的生態(tài)平臺,通過線上線下多元化的互動方式,促進(jìn)行業(yè)內(nèi)外的交流與合作。實驗室的重新揭幕,不僅標(biāo)志著其在測試技術(shù)領(lǐng)域的新里程碑,也預(yù)示著泰克本土化進(jìn)程的進(jìn)一步深化加強。泰克將與合作伙伴更密切的合作,以泰克測試解決方案為核心,開發(fā)更多本土化方案,來解決中國客戶的實際痛點。
我們將以更全面的測試能力,與客戶一起打磨產(chǎn)品,驗證標(biāo)準(zhǔn),為國產(chǎn)第三代半導(dǎo)體企業(yè)提供優(yōu)質(zhì)良好的服務(wù),共同推動第三代半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。
DPT1000A動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
DPT1000A功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),于2021年首度推出,旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題。泰克公司結(jié)合自身在時域波形測量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗,與國內(nèi)系統(tǒng)集成商一道,共同定義并開發(fā)了這套面向新一代功率器件的動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)。這套系統(tǒng)具備高測試帶寬,低寄生參數(shù),兼容性強,系統(tǒng)靈活方便升級的特點,系統(tǒng)推出后得到廣大測試工程師的廣泛認(rèn)可。除了常規(guī)的開關(guān)參數(shù)和反向恢復(fù)測試外,DPT1000A還可以完成雪崩測試,短路測試,測試期間種類涵蓋Si MOSFET,IGBT,PMOS,SiC,GaN等,系統(tǒng)具備極高的靈活性,適配多種測試標(biāo)準(zhǔn)。
SPT1000A靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
SPT1000A靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可用于各類二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管等各類分立器件的靜態(tài)參數(shù)測試。系統(tǒng)搭配了業(yè)界領(lǐng)先的源表(SMU)和精密LCR表。使得本系統(tǒng)可以在3kV和1000/2000A的條件下實現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析,漏電流測試分辨率高達(dá)fA級,電壓測試分辨率最高可達(dá)nV級,以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。本系統(tǒng)不僅適用于傳統(tǒng)硅基功率器件,也可用于新型功率半導(dǎo)體器件如碳化硅、氮化鎵、氧化鎵等的靜態(tài)參數(shù)測試。
SPT1000A在測試夾具設(shè)計上采用一站式設(shè)計,被測件插入夾具后,可以一次性完成高壓、大電流,寄生電容相關(guān)測試,無需更換測試夾具和測試連接,簡化操作步驟,提高測試效率。系統(tǒng)支持加溫測試,外置選配熱流儀可以進(jìn)行高溫低溫。
HTXB-1000B動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)
DHTXB-1000A動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對第三代半導(dǎo)體功率器件,參考AQG-324標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)特有的器件特性和失效機理,在加速老化條件下,有針對性的施加特定壓力條件(包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力),用以測試器件的漏流指標(biāo),以及其他特性參數(shù)(例如閾值電壓,導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo)),用以表征器件的老化特性和工作壽命??梢宰屍骷a(chǎn)廠商和器件使用者在較短時間內(nèi)了解功率器件的老化特性,以及長期使用條件下的性能變化,為器件實際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。
DHTOL-1000B功率器件工況老化測試平臺
以SiC和GaN為代表的第三代半導(dǎo)體功率器件,由于其相對較短的面市歷史,目前器件的可靠性與壽命分析仍屬于科研前沿。在這一背景下,老化測試方法尚未形成統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。然而,在一些行業(yè)領(lǐng)先廠商和標(biāo)準(zhǔn)化組織的積極推動下,例如JEP180,針對功率器件的高溫度操作壽命(HTOL)測試方法正逐漸成為評估這些新型功率器件老化特性的新興手段。
HTOL測試方法的主要優(yōu)勢在于其能夠模擬器件在實際工作環(huán)境下的老化過程。通過在高溫條件下加速器件的退化過程,該方法能夠在較短的時間內(nèi)獲得關(guān)于器件老化特性的寶貴數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)不僅對用戶具有較高的說服力,而且對于產(chǎn)品的保修期限和維護計劃的制定具有重要指導(dǎo)意義。
此外,通過在特定拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的電源電路中進(jìn)行硬開關(guān)測試,HTOL方法能夠有效預(yù)測器件在特定工作條件下的預(yù)期壽命。這不僅為產(chǎn)品的可靠性評估提供了科學(xué)依據(jù),同時也幫助設(shè)計者深入理解器件在預(yù)期壽命周期內(nèi)的性能表現(xiàn),從而在產(chǎn)品開發(fā)和優(yōu)化過程中做出更加精準(zhǔn)的決策。
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關(guān)于泰克科技
泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請登錄:tek.com.cn。