泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室再升級，開啟功率器件測試新篇章

2024年5月16日，中國北京——泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室，作為北京先進(jìn)半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的領(lǐng)軍者，今日宣布其實驗室經(jīng)過全面升級后，推出Version 2.0并在京盛大揭幕。泰克科技中國區(qū)分銷業(yè)務(wù)總經(jīng)理宋磊為本次盛會做了開幕致辭，同時我們有幸邀請到了第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟副秘書長高偉博士，中關(guān)村天合寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟副秘書長侯喜峰，國家新能源汽車創(chuàng)新中心功率測試平臺負(fù)責(zé)人郭大銘作為特邀演講嘉賓，泰克科技技術(shù)總監(jiān)張欣也在現(xiàn)場做了精彩分享。泰克的合作伙伴飛仕德、眾力為、歐菲特等更在會上展示了和泰克通力合作，在第三代半導(dǎo)體應(yīng)用上取得的成就。

此次升級不僅是技術(shù)解決方案的飛躍，更是對創(chuàng)新精神的一次深刻體現(xiàn)，旨在擴展全面的測試能力，提供一站式解決方案，打造一個開放、協(xié)作、共贏的生態(tài)平臺，攜手用戶共同應(yīng)對新技術(shù)測試的挑戰(zhàn)。

第三代半導(dǎo)體不是一個全新的話題，其蓬勃發(fā)展的態(tài)勢已經(jīng)形成，對應(yīng)的測試需求與日俱增。泰克公司作為測試測量領(lǐng)域的佼佼者，一直致力于提升企業(yè)核心競爭力，創(chuàng)新研發(fā)第三代半導(dǎo)體的測試解決方案。泰克將本土化作為核心競爭力之一，自2022年在中國成立先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室以來，已累計免費為超過300人次提供服務(wù)，測試器件種類超過1000種，是國內(nèi)面向第三代半導(dǎo)體功率器件方向，測試能力卓越，綜合能力領(lǐng)先的實驗室；同時也是客戶實測和交流的平臺。

為了更好的銜接客戶測試需求，應(yīng)對新技術(shù)應(yīng)用場景，現(xiàn)在實驗室再次升級，泰克創(chuàng)新實驗室V2.0橫空出世，設(shè)備再更新，能力再升級。此次升級包括了GaN器件開關(guān)測試和動態(tài)導(dǎo)通電阻測試、SiC功率器件的短路測試、雪崩測試，以及更全面的靜態(tài)參數(shù)和電容參數(shù)測試系統(tǒng)。此外，實驗室還引入了全新的面向第三代半導(dǎo)體功率器件的可靠性測試系統(tǒng)，以滿足日益增長的測試需求。

泰克創(chuàng)新實驗室致力于打造一個完整的生態(tài)平臺，通過線上線下多元化的互動方式，促進(jìn)行業(yè)內(nèi)外的交流與合作。實驗室的重新揭幕，不僅標(biāo)志著其在測試技術(shù)領(lǐng)域的新里程碑，也預(yù)示著泰克本土化進(jìn)程的進(jìn)一步深化加強。泰克將與合作伙伴更密切的合作，以泰克測試解決方案為核心，開發(fā)更多本土化方案，來解決中國客戶的實際痛點。

我們將以更全面的測試能力，與客戶一起打磨產(chǎn)品，驗證標(biāo)準(zhǔn)，為國產(chǎn)第三代半導(dǎo)體企業(yè)提供優(yōu)質(zhì)良好的服務(wù)，共同推動第三代半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。

DPT1000A動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

DPT1000A功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，于2021年首度推出，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題。泰克公司結(jié)合自身在時域波形測量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗，與國內(nèi)系統(tǒng)集成商一道，共同定義并開發(fā)了這套面向新一代功率器件的動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)。這套系統(tǒng)具備高測試帶寬，低寄生參數(shù)，兼容性強，系統(tǒng)靈活方便升級的特點，系統(tǒng)推出后得到廣大測試工程師的廣泛認(rèn)可。除了常規(guī)的開關(guān)參數(shù)和反向恢復(fù)測試外，DPT1000A還可以完成雪崩測試，短路測試，測試期間種類涵蓋Si MOSFET，IGBT，PMOS，SiC，GaN等，系統(tǒng)具備極高的靈活性，適配多種測試標(biāo)準(zhǔn)。

SPT1000A靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

SPT1000A靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可用于各類二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管等各類分立器件的靜態(tài)參數(shù)測試。系統(tǒng)搭配了業(yè)界領(lǐng)先的源表（SMU）和精密LCR表。使得本系統(tǒng)可以在3kV和1000/2000A的條件下實現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析，漏電流測試分辨率高達(dá)fA級，電壓測試分辨率最高可達(dá)nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。本系統(tǒng)不僅適用于傳統(tǒng)硅基功率器件，也可用于新型功率半導(dǎo)體器件如碳化硅、氮化鎵、氧化鎵等的靜態(tài)參數(shù)測試。

SPT1000A在測試夾具設(shè)計上采用一站式設(shè)計，被測件插入夾具后，可以一次性完成高壓、大電流，寄生電容相關(guān)測試，無需更換測試夾具和測試連接，簡化操作步驟，提高測試效率。系統(tǒng)支持加溫測試，外置選配熱流儀可以進(jìn)行高溫低溫。

HTXB-1000B動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)

DHTXB-1000A動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對第三代半導(dǎo)體功率器件，參考AQG-324標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)特有的器件特性和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力），用以測試器件的漏流指標(biāo)，以及其他特性參數(shù)（例如閾值電壓，導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo)），用以表征器件的老化特性和工作壽命?？梢宰屍骷a(chǎn)廠商和器件使用者在較短時間內(nèi)了解功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。

DHTOL-1000B功率器件工況老化測試平臺

以SiC和GaN為代表的第三代半導(dǎo)體功率器件，由于其相對較短的面市歷史，目前器件的可靠性與壽命分析仍屬于科研前沿。在這一背景下，老化測試方法尚未形成統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。然而，在一些行業(yè)領(lǐng)先廠商和標(biāo)準(zhǔn)化組織的積極推動下，例如JEP180，針對功率器件的高溫度操作壽命（HTOL）測試方法正逐漸成為評估這些新型功率器件老化特性的新興手段。

HTOL測試方法的主要優(yōu)勢在于其能夠模擬器件在實際工作環(huán)境下的老化過程。通過在高溫條件下加速器件的退化過程，該方法能夠在較短的時間內(nèi)獲得關(guān)于器件老化特性的寶貴數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)不僅對用戶具有較高的說服力，而且對于產(chǎn)品的保修期限和維護計劃的制定具有重要指導(dǎo)意義。

此外，通過在特定拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的電源電路中進(jìn)行硬開關(guān)測試，HTOL方法能夠有效預(yù)測器件在特定工作條件下的預(yù)期壽命。這不僅為產(chǎn)品的可靠性評估提供了科學(xué)依據(jù)，同時也幫助設(shè)計者深入理解器件在預(yù)期壽命周期內(nèi)的性能表現(xiàn)，從而在產(chǎn)品開發(fā)和優(yōu)化過程中做出更加精準(zhǔn)的決策。

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