PCB電路板清洗效果檢測(cè)方法及評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)
PCB電路板清洗效果檢測(cè)是PCB生產(chǎn)加工及電路板改板設(shè)計(jì)等各制板環(huán)節(jié)中都有涉及,關(guān)于PCB電路板清洗效果檢測(cè)的方法及評(píng)估標(biāo)準(zhǔn),電子加工廠及電路板工程師都應(yīng)該遵循一定的標(biāo)準(zhǔn)。以下是PCB電路板清洗效果檢測(cè)的正確檢測(cè)方法及科學(xué)的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn):
1.原材料質(zhì)量要求
1)錫鉛焊料 壓力加工錫鉛焊料的化學(xué)成分需符合GB/T 31311的要求。 鑄造錫鉛焊料的化學(xué)成分需符合GB/T 8012的要求。
2)焊劑 關(guān)于焊劑質(zhì)量,應(yīng)該從焊劑的外觀、物理穩(wěn)定性和顏色、不揮發(fā)物含量、粘性和密度、水萃取電阻值、鹵素含量、固體含量、助焊性、干燥度、銅鏡腐蝕性、絕緣電阻、離子污染等方面進(jìn)行檢測(cè)。
2.印制電路板清洗質(zhì)量要求
目前我國(guó)電子行業(yè)對(duì)作為最終產(chǎn)品的印制電路板還未形成統(tǒng)一的清洗質(zhì)量規(guī)范。在發(fā)達(dá)國(guó)家較普遍使用的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)印制電路板的清洗質(zhì)量有以下規(guī)定。
1)J-STD-001B規(guī)定: A,離子污染物含量:<1.56μgNaCl/cm2; B,助焊劑殘留量:一級(jí)<200μgNaCl/cm2,二級(jí)<100μgNaCl/cm2,三級(jí)<40μgNa-Cl/cm2; C,平均絕緣電阻>1評(píng)108Ω,(log10)的標(biāo)準(zhǔn)差<3.
2)IPC-SA-61按工藝規(guī)定的值。
3)MIL-STD-2000A規(guī)定離子污染物含量<1.56μgNaCl/cm2。
此外,在MIL-P-28809規(guī)范中,規(guī)定也可用清洗或清洗液溶液的電阻率作為清洗度的判據(jù),清洗溶液電阻率大于2評(píng)106Ω.cm為干凈,否則為不干凈。這種方法適用于清洗工藝的監(jiān)測(cè)。 由于各種商業(yè)性表面離子污染測(cè)試儀的出現(xiàn),不同測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果均有所不同,但都高于手工測(cè)試結(jié)果。因此,提出了等值系數(shù)這一概念,實(shí)現(xiàn)了不同系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果的可對(duì)比性。。
4)含 量 工 藝離子污染物含量 助焊劑殘留量 工藝A <1.5μgNaCl/cm2 <217μg/板 工藝C <2.8μgNaCl/cm2 <2852μg/板 工藝D <9.4μgNaCl/cm2 <1481μg/板 平均絕緣電阻值 >1評(píng)108Ω,(log10)的標(biāo)準(zhǔn)差<3 >1評(píng)108Ω,(log10)的標(biāo)準(zhǔn)差<3 注:1 工藝A:印制板裸板 — 測(cè)試; 2 工藝C:印制板裸板 — SMT — 回流焊 — 清洗 — 測(cè)試; 3 工藝D:印制板裸板 — SMT — 回流焊 — 清洗 — 波峰焊 — 清洗 — 測(cè)試; 4 測(cè)試板為IPC-B-36。
二、檢測(cè)方法
1.目視檢驗(yàn) 不使用放大鏡,直接用眼睛觀測(cè)印制電路板表面應(yīng)無(wú)明顯的殘留物存在。
2.表面離子污染測(cè)試方法。
1)萃取溶液電阻率(ROSE)測(cè)試法 萃取溶液電阻率測(cè)試法的原理是,以75%異丙醇加25%去離子水(體積比)為測(cè)試溶液,沖洗印制電路板表面并使殘留在印制板表面上的污染物溶解到測(cè)試溶液中。由于這些污染物中的正負(fù)離子使測(cè)試溶液的電阻率降低,溶入測(cè)試液中的離子越多其電阻率降低的也越多,二者具有反比函數(shù)關(guān)系。 測(cè)試液中的離子當(dāng)量=常數(shù)/測(cè)試液的電阻率
(1) 正是利用這種函數(shù)關(guān)系,通過(guò)測(cè)定測(cè)試液沖洗前后的電阻值及所使用測(cè)試液的體積,可以計(jì)算出印制電路板表面殘留離子的含量,并規(guī)定以每平方厘米NaCl當(dāng)量來(lái)表示,即μgNaCl/cm2。 A,手工測(cè)試法 可按GB/T 4677.22執(zhí)行,或參考IPC-TM-650中2.3.25、MIL-STD-2000A 執(zhí)行。按每平方厘米印制電路板1.5ml的比例量取測(cè)試溶液。測(cè)試溶液的電阻率必須大于6MΩ.cm,以細(xì)流方式?jīng)_洗印制電路板表面,直到測(cè)試溶液全部收集到燒杯內(nèi),該過(guò)程至少需要1分鐘。用電導(dǎo)電橋或等同量程和精度的儀器測(cè)量測(cè)試溶液的電阻率,按公式(5-2)計(jì)算單位面積上的NaCl當(dāng)量。 Wr=1.56評(píng)2/p..........(2)式中:Wr--每平方厘米面積上的NaCl當(dāng)量,μgNaCl/cm2; 2-當(dāng)試樣含有1.56μgNaCl/cm2時(shí)的電阻率,MΩ.cm; p-收集液的電阻率,MΩ.cm; 1.56-電阻率值為2MΩ.cm時(shí)試樣單位面積所含相應(yīng)的NaCl當(dāng)量,μg/cm2。 B,儀器測(cè)試法 可按IPC-TM-650-2.3.26執(zhí)行或參考IPC-TM-650-2.3.26.1執(zhí)行。 通過(guò)測(cè)量測(cè)試液的溫度和密度確定其異丙醇的含量,并使之達(dá)到75%。開啟凈化泵,利用離子交換柱進(jìn)行凈化處理,直到測(cè)試液電阻率達(dá)到或超過(guò)20MΩ.cm。系統(tǒng)校驗(yàn)無(wú)誤后,在測(cè)試槽中注入適量的測(cè)試液,放入測(cè)試樣品,開啟測(cè)試泵測(cè)量測(cè)試液的電阻率,至電阻率達(dá)到穩(wěn)定為止。 C,數(shù)據(jù)處理 根據(jù)測(cè)試循環(huán)回路結(jié)構(gòu)的不同,該測(cè)試又可分為靜態(tài)測(cè)試法和動(dòng)態(tài)測(cè)試法。靜態(tài)測(cè)試法的循環(huán)回路由測(cè)試槽、電阻率測(cè)試探頭和測(cè)試泵構(gòu)成。單位面積上的NaCl當(dāng)量按公式
(3)計(jì)算。 式中:Wr-每平方厘米面積上的NaCl當(dāng)量,μgNaCl/cm2。 V-測(cè)試循環(huán)回路中測(cè)試液的體積,L; p1--測(cè)試液的最終電阻率值,Ω.cm。 S-測(cè)試樣品的面積(長(zhǎng)評(píng)寬評(píng)2),cm2。 po-測(cè)試液的初始電阻率值,Ω.cm。 C--測(cè)試液中異丙醇含量(75%); A、B--實(shí)驗(yàn)常數(shù)。 動(dòng)態(tài)測(cè)試法的測(cè)試循環(huán)回路由測(cè)試槽、電阻率測(cè)試探頭、測(cè)試泵和離子交換柱構(gòu)成。因?yàn)樵谡麄€(gè)測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試液不停地經(jīng)過(guò)離子交換柱凈化處理,所以在測(cè)試過(guò)程中應(yīng)連續(xù)測(cè)量測(cè)試液的電阻率,并進(jìn)行累加。所萃取出的離子量符合公式
(4)關(guān)系。 式中:N--測(cè)試液中的離子量,moL; k-實(shí)驗(yàn)常數(shù); V-測(cè)試循環(huán)回路中測(cè)試液的體積,L; P1-t時(shí)測(cè)試的電阻率值。 2)離子色譜測(cè)試法 可按IPC-TM-650中2.3.28執(zhí)行。 使用的實(shí)驗(yàn)器材包括: A,離子色譜儀; B,熱水浴包:800C±50C; C,聚乙烯可密封塑料袋:可萃取的污染物<25mg/kg; D,聚乙烯塑料手袋:Cl-<3mg/kg; E,去離子水:18.3MΩ.cm,Cl-<50mg/kg; F,異丙醇:電子級(jí)。 配置75%異丙醇加25%去離子水(體積比)萃取溶液,將印制電路板和(100-250)mL萃取液放入聚乙烯塑料袋內(nèi)(印制電路板應(yīng)全部浸泡在萃取溶液中)并進(jìn)行熱密封后,放入(80±5)0C的熱水浴包中1小時(shí)。取出塑料袋,將萃取液送入離子色譜儀中進(jìn)行測(cè)試,離子含量按公式
(5)計(jì)算。 式中:Wr--每平方厘米面積上某離子的含量,μgNaCl/cm2。 C-根據(jù)標(biāo)樣測(cè)試出的萃取液中某離子的含量,mg/kg; V0-注入到聚乙烯塑料袋中的萃取液的體積,mL; V1-注入到離子色譜儀中進(jìn)行測(cè)試的萃取液的體積,mL; S-印制電路板面積(長(zhǎng)評(píng)寬評(píng)2),cm2。
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