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[導(dǎo)讀]摘要:設(shè)計(jì)了上下位嵌入式系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框架,下機(jī)位的測(cè)試設(shè)備模擬產(chǎn)品的實(shí)際工作狀態(tài),提供通過(guò)原來(lái)由傳感器所獲得的輸入信號(hào),并采集產(chǎn)品上電動(dòng)機(jī)的控制信號(hào),分析和判斷這個(gè)信號(hào),將結(jié)果傳送到到上位機(jī),由上位機(jī)記

摘要:設(shè)計(jì)了上下位嵌入式系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框架,下機(jī)位的測(cè)試設(shè)備模擬產(chǎn)品的實(shí)際工作狀態(tài),提供通過(guò)原來(lái)由傳感器所獲得的輸入信號(hào),并采集產(chǎn)品上電動(dòng)機(jī)的控制信號(hào),分析和判斷這個(gè)信號(hào),將結(jié)果傳送到到上位機(jī),由上位機(jī)記錄結(jié)果,測(cè)試系統(tǒng)硬件部分以51系列STC12LC5608單片機(jī)為核心,測(cè)試系統(tǒng)具有可靠性高、操作界面友好、自動(dòng)化程度強(qiáng)等特點(diǎn)。
關(guān)鍵詞:嵌入式系統(tǒng);傳感器;單片機(jī);測(cè)試系統(tǒng)

    隨著SMT技術(shù)在計(jì)算機(jī)、網(wǎng)絡(luò)通信、消費(fèi)電子以及汽車(chē)電子等產(chǎn)品中的廣泛應(yīng)用,電子產(chǎn)品的裝配趨于復(fù)雜化、高精度化、密集化和多功能化,正確的測(cè)試策略可以幫助生產(chǎn)廠家提高效率、制造出合格的產(chǎn)品;同時(shí),在產(chǎn)品設(shè)計(jì)、設(shè)備投資、制造及質(zhì)量保證過(guò)程中引入測(cè)試還能有效地降低成本。因而,測(cè)試已經(jīng)成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造過(guò)程中的不可或缺的重要環(huán)節(jié)。本文主要針對(duì)鞋套機(jī)控制板電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)做了詳細(xì)的介紹。

1 測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)
1.1 測(cè)試系統(tǒng)的原理框圖
   
本測(cè)試系統(tǒng)分兩大模塊組成:上位機(jī)和下位機(jī)。上位機(jī)主要指的是PC機(jī),在PC機(jī)上用VB語(yǔ)言編輯一個(gè)操作界面,操作界面包括有啟動(dòng)命令按鈕、輸入信號(hào)的實(shí)時(shí)狀態(tài)、狀態(tài)指示燈、記錄數(shù)據(jù)窗口。下位機(jī)指的主要是一個(gè)檢測(cè)電路板和外圍借口設(shè)備。檢測(cè)電路以51系列的TC12C 5608單片機(jī)為核心,其包括通信電路模塊、供電模塊、被測(cè)信號(hào)采集電路。下位機(jī)主要能模擬控制板所需的傳感器信號(hào)并采集分析控制板電機(jī)的控制信號(hào)其硬件原理框圖如圖1所示。


1.2 51系列STC12C5608單片機(jī)簡(jiǎn)介
   
STC12C5608單片機(jī)主要性能有以下幾個(gè)方面:高速:1個(gè)時(shí)鐘/機(jī)器周期,增強(qiáng)型8051內(nèi)核,速度比普通51快8~12倍。寬電壓:5.5~3.5 V。低功耗設(shè)計(jì):空閑模式,掉電模式。工作頻率:0~35 MHz,相當(dāng)于普通51:0~420MHz。時(shí)鐘:外部晶體或內(nèi)部RC振蕩器可選,在ISP下載編程用戶程序時(shí)設(shè)置。片內(nèi)Flash程序存儲(chǔ)器:30K/28K/24K/20K/16K/12K/8K/4K字節(jié),擦寫(xiě)次數(shù)10萬(wàn)次以上。片內(nèi)RAM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器:256+512字節(jié)。芯片內(nèi)EEPROM功能。ISP/IAP,在系統(tǒng)可編程/在應(yīng)用可編程。10位ADC,8通道。4路PWM還可當(dāng)4路D/A使用。6個(gè)16位定時(shí)器,兼容普通51的定時(shí)器T0/T1,4路PCA也是4個(gè)定時(shí)器。可編程時(shí)鐘輸出功能,T0可在P1.0輸出時(shí)鐘,T1可在P1.1輸出時(shí)鐘。還有硬件看門(mén)狗(WDT),高速SPI通信端口,全雙工異步串行通信口(UART),兼容普通51的串口,兼容普通51指令集。25個(gè)通用I/O口,復(fù)位后為:準(zhǔn)雙向口/弱上拉(普通51傳統(tǒng)I/O口),可設(shè)置成四種模式:準(zhǔn)雙向口/弱上拉,僅為輸入/高阻,開(kāi)漏。每個(gè)I/O口驅(qū)動(dòng)能力均可達(dá)到20 mA,但整個(gè)芯片最大不得超過(guò)55 mA。
1.3 STC12C5608單片機(jī)最小系統(tǒng)
   
所謂最小系統(tǒng),即能使單片機(jī)正常工作的電路設(shè)計(jì),通常需要根據(jù)單片機(jī)資料進(jìn)行合理的配置,實(shí)現(xiàn)單片機(jī)的正常運(yùn)行。最小系統(tǒng)不能實(shí)現(xiàn)單片機(jī)各個(gè)模塊的工作,但是能夠通過(guò)外擴(kuò)達(dá)到數(shù)據(jù)通信,AD轉(zhuǎn)換等功能的完成。
    單片機(jī)最小系統(tǒng)包括有:復(fù)位電路、晶振電路、單片機(jī),最小系統(tǒng)電路圖如圖2所示。


1.4 整體電路原理圖設(shè)計(jì)
   
測(cè)試系統(tǒng)整體電路圖設(shè)計(jì)如圖3所示。


    電源電路采用的是三端集成穩(wěn)壓器78L05,輸入+12 V直流電壓,經(jīng)過(guò)兩個(gè)二極管,兩個(gè)二極管上分別承擔(dān)一點(diǎn)電壓,可以起到保護(hù)作用,應(yīng)用電路采用78L05的典型應(yīng)用電路,輸出電壓為直流+5 V,給檢測(cè)板上芯片供電。
    串口芯片也就是通信部分采用的是RS232協(xié)議,MAX232芯片是TTL—RS232電平轉(zhuǎn)換的典型芯片。TTL電平中“+5 V”表示邏輯“1”,“0 V”表示邏輯“0”;RS232電平中“-15 V到-3 V”表示邏輯“1”,“+15 V到+3 V”表示邏輯“0”。TXD和RXD均是和單片機(jī)相連接的。

2 測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
2.1 單片機(jī)程序設(shè)計(jì)
   
主程序框圖如圖4所示。


2.2 測(cè)試臺(tái)與上位機(jī)通信測(cè)試
   
測(cè)試臺(tái)與上位機(jī)通信測(cè)試主要是指測(cè)試板上的單片機(jī)是否與PC機(jī)連接上,能否正常通信,如圖5所示,在“傳感器狀態(tài)欄”這幾個(gè)字右側(cè)顯示“已連接”表明通信正常。


    當(dāng)系統(tǒng)實(shí)際測(cè)試時(shí),各傳感器有感應(yīng)時(shí)傳感器下方的shapel框會(huì)填充顏色,表明傳感器的實(shí)時(shí)狀態(tài)。同樣電動(dòng)機(jī)下面的shapel框也能實(shí)時(shí)反映鞋套機(jī)控制板的電動(dòng)機(jī)的實(shí)時(shí)狀態(tài),結(jié)合上述兩種顯示情況,本系統(tǒng)完全做到了能模擬鞋套機(jī)控制板的實(shí)際工作情況。
2.3 上機(jī)位系統(tǒng)測(cè)試界面
   
如圖6所示,為測(cè)試系統(tǒng)工作時(shí),上位機(jī)界面的截圖,此時(shí)測(cè)試系統(tǒng)模擬鞋套機(jī)工作到踩套階段。


    本系統(tǒng)中最重要的一個(gè)部分就是檢測(cè)欄的數(shù)據(jù),測(cè)試的目的就是為了判斷鞋套機(jī)控制板的好壞,根據(jù)檢測(cè)欄中得到的數(shù)據(jù)就能進(jìn)行質(zhì)量分析,即對(duì)測(cè)試電路板的故障點(diǎn)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析,確定是設(shè)計(jì)原因還是生產(chǎn)中的原因。
    根據(jù)檢測(cè)欄的完整數(shù)據(jù)來(lái)判斷鞋套機(jī)控制板的好壞,我們以50套控制板來(lái)做測(cè)試得到的結(jié)果如表1所示。


    根據(jù)上表測(cè)試結(jié)果表明在50套里面出現(xiàn)錯(cuò)誤的只有2個(gè),完全滿足設(shè)計(jì)的要求。

3 結(jié)論
   
本測(cè)試系統(tǒng)用來(lái)測(cè)試鞋套機(jī)的控制板的好壞,測(cè)試系統(tǒng)模擬控制板所需的輸入信號(hào),即鞋套機(jī)上傳感器的信號(hào),并能采集控制板上電動(dòng)機(jī)的控制信號(hào),將采集的信號(hào)交給單片機(jī)來(lái)分析,并能在人機(jī)界面上顯示分析結(jié)果,以達(dá)到測(cè)試的效果。

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