在線陣、凸陣、環(huán)形陣及相控陣式B超儀中，電子聚焦、變跡及方向控制等技術對回波信號的波束特性具有很大影響，是影響波束特性的主要因素，這些技術被綜合稱之為波束形成技術。老式的B超通常采用模擬波束形成方式，即每個陣元所接收的信號經(jīng)前置放大及模擬延遲線適當延遲后疊加起來，也就是說，電子聚焦、變孔徑方向控制及變跡等都是在模擬信號控制下完成的。這種方式因器件的準確度不夠(如延遲時間、放大器增益等)、阻抗不匹配、引起插入損耗、參數(shù)容易產(chǎn)生漂移及惡化、引入噪聲等，使儀器的整機分辨力等特性難以達到更高的水平。本文介紹的數(shù)字波束形成技術是利用FPGA芯片通過軟件程序準確地控制延時時間，從而獲得最佳的電子聚焦、變跡、方向控制等方面的效果，最終達到提高儀器整體性能的目的。
數(shù)字波束形成理論及算法基礎
動態(tài)變跡(Dynamic Apodization)
在醫(yī)學超聲系統(tǒng)中，主波束寬度、旁瓣級大小、能獲得的信號動態(tài)范圍是影響超聲信號與圖像質(zhì)量的三個重要的因素。在超聲設備中進行變跡處理主要是用來抑制旁瓣的影響。實現(xiàn)變跡的方法通常有孔徑變跡、幅度加權變跡、動態(tài)變跡等幾種。(1)幅度變跡：是指在信號接收處理過程中對中心振元信號賦予較大的權值，向兩邊權值逐漸減小，然后各振元輸出信號進行加權求和，進而抑制旁瓣和柵瓣的影響。(2)孔徑變跡是指在發(fā)射和接收過程中分別采用不同的孔徑在保持發(fā)射和接收波束方向一致的條件下，使發(fā)射和接收的旁瓣峰值相互錯開，由此來抑制旁瓣。(3)在接收過程中，采用幅度加權變跡處理后，抑制旁瓣的效果隨產(chǎn)生回波信號的深度而變化。在變跡有效的掃查深度附近一個小范圍內(nèi)能很好地抑制旁瓣，在其他區(qū)域效果會明顯下降。這樣，根據(jù)回波到達換能器時間先后順序，同步動態(tài)地改變變跡函數(shù)，及各通道的加權系數(shù)，可使抑制旁瓣的有效深度由淺漸深地實時根據(jù)回波深度的變化而變化，使系統(tǒng)在掃查范圍內(nèi)都具有最佳的抑制旁瓣的性能。在全數(shù)字波束形成系統(tǒng)中，通常將幅度變跡、孔徑變跡和動態(tài)變跡結合使用，來達到更好的抑制旁瓣的效果。
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