大部分電子產(chǎn)品需要通過電快速瞬變脈沖群（EFT）（根據(jù)IEC61000-4-4）和靜電放電（ESD）(根據(jù)IEC61000-4-2)等項目的標準測試。EFT和ESD是兩種典型的突發(fā)干擾，EFT信號單脈沖的峰值電壓可高達4kV，上升沿5ns。接觸放電測試時的ESD信號的峰值電壓可高達8kV，上升時間小于1ns。這兩種突發(fā)干擾，都具有突發(fā)、高壓、寬頻等特征。
在進行標準的EFT/ESD測試時，把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒有通過這些標準的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。
要想定位被測物(EUT)對突發(fā)干擾敏感的原因和位置，必須進行信號測量。但是如果采用示波器進行測量的話，EUT內(nèi)部的干擾會產(chǎn)生變化。例如圖1中，使用金屬導線的探頭連接到示波器，會形成一個額外的干擾電流路徑，從而影響測試結(jié)果，很難定位產(chǎn)生ESD/EFT問題的原因。
圖1 用示波器測量EFT/ESD
EFT/ESD干擾電路正常工作的機理
在進行EFT/ESD等抗擾度測試時，需要把相應(yīng)的突發(fā)干擾施加到EUT的電源線，信號線或者機箱等位置。干擾電流會通過電纜或者機箱，流入EUT的內(nèi)部電路，可能會引起EUT技術(shù)指標的下降，例如干擾音頻或視頻信號，或者引起通信誤碼等；也可能引起系統(tǒng)復位，停止工作，甚至損壞器件等。
電子產(chǎn)品的抗干擾特性，取決于其PCB設(shè)計和集成電路的敏感度。電路對EFT/ESD信號敏感的位置，一般能被精確定位。形成這些"敏感點"的原因，很大程度上取決于GND/VCC的形狀以及集成電路的類型和制造商。
實踐發(fā)現(xiàn)，產(chǎn)生EFT/ESD問題的最主要的原因是，干擾電流的主要部分會流入低阻抗的電源系統(tǒng)。干擾電流能通過直接的連接進入GND系統(tǒng)，再由線路連接，從另外一個地方耦合出來；干擾電流也能通過直接連接進入GND系統(tǒng)，然后通過和金屬塊(例如機箱)等物體的容性耦合方式，以電場的方式(場束)耦合出來。
圖2中，干擾脈沖電流I通過電纜或者電容滲透到PCB內(nèi)。由干擾電流產(chǎn)生電場干擾(電場強度E)或者磁場干擾(磁場強度B)。磁脈沖場B或電脈沖場E是影響PCB最主要的基本元素，一般來說，敏感點要么僅對磁場敏感，要么僅對電場敏感。
干擾電流I通過電源線注入到設(shè)備內(nèi)部。由于旁路電容C的存在，一部分電流IA離開了被測物，內(nèi)部的干擾電流Ii被減少了。圖中所示的由干擾電流Ii產(chǎn)生的磁場B會影響它周圍幾厘米范圍內(nèi)的電路模塊，一般電路模塊內(nèi)只會有很少的信號線會對磁場B敏感。
需要注意，磁場不僅僅由電源線電纜上干擾電流I以及排狀電纜上的電流產(chǎn)生，旁路電容C的電流路徑以及內(nèi)部GND和VCC上的電流，會擴大干擾范圍。
在電源系統(tǒng)(主要是GND)上流動的干擾電流，產(chǎn)生的很強的寬頻譜電磁場，能干擾其周圍幾厘米范圍內(nèi)的集成電路或者信號線，如果敏感的信號線或者器件，例如復位信號、片選信號、晶體等，正好放置在干擾電流路徑周圍，系統(tǒng)就可能由此引起各種不穩(wěn)定的現(xiàn)象。
一般情況下，一塊PCB上只會存在少量的敏感點，而且每個敏感點也會被限制在很少的區(qū)域。在把這些敏感點找出來，并采取適當?shù)氖侄魏?，就能提高產(chǎn)品的抗干擾性能。
由此可見，為了定位EUT不能通過EFT/ESD測試的原因，我們就必須首先找出這些突發(fā)干擾在系統(tǒng)內(nèi)部的電流路徑，再找出該路徑周圍存在哪些敏感的信號線和器件(敏感點)，之后可以采取改善接地系統(tǒng)以改變電流路徑，或者移動敏感信號線和器件的位置等方法，從根本上以最低的成本解決EFT/ESD問題。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
由于EFT/ESD信號具有高壓和寬頻譜等特征，傳統(tǒng)的示波器和頻譜分析儀很難測量干擾電流的路徑。本文介紹的E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，專門用于測量和排除EFT/ESD問題。E1系統(tǒng)由四大部分組成(圖3)：
1．產(chǎn)生突發(fā)干擾的突發(fā)干擾信號源SGZ21
SGZ21產(chǎn)生連續(xù)的類似于EFT或者ESD的干擾脈沖，脈沖的上升沿時間為2ns，下降沿時間為約10ns。這些脈沖包含的能量比標準的EFT脈沖或ESD脈沖小，因此能在不損壞被測設(shè)備的情況下，把干擾直接耦合到EUT的內(nèi)部PCB上。
SGZ21輸出的脈沖信號，其脈沖幅度是連續(xù)變化的，峰值在0－1500V之間，按統(tǒng)計平均分布。利用這種方法，配合傳感器，加上SGZ21內(nèi)置的光纖輸入計數(shù)器，能對PCB進行特別快速的抗干擾性能評估。
SGZ21采用電氣隔離(無大地參考)的對稱輸出。干擾脈沖能被容性耦合，極性可變。這樣，就能采用各種耦合方式，例如：
a. 把發(fā)生器的輸出直接連接到被測物的GND系統(tǒng)上，把干擾電流直接注入到GND系統(tǒng)。
b. 把干擾電流注入到GND，然后從VCC返回。
c. 干擾電流可以注入到變壓器、分配器或者光耦的初級，從次級返回。
2．接收突發(fā)干擾的瞬態(tài)磁場探頭MS02
流過EUT的干擾電流會產(chǎn)生磁場。通過磁場的強度和方向等信息能提供干擾電流的分布情況。MS02瞬態(tài)磁場探頭是一個無源探頭，通過光纖連接到SGZ21計數(shù)器的輸入，利用計數(shù)器的讀數(shù)，可以測量突發(fā)電磁場的相對強度。
如果MS02檢測到磁場脈沖，它就會發(fā)出一個光脈沖。光脈沖的數(shù)量，可以在SGZ21計數(shù)器上讀到，這個值和測量到的平均磁場強度成一定的比例。只有穿過探頭環(huán)的磁力線才會被檢測到，因此通過旋轉(zhuǎn)探頭的方向，找到最大計數(shù)值，可以檢測到磁力線的方向，從而準確探測干擾電流的方向。見圖4
3．將信號源的電輸出變?yōu)橥话l(fā)電磁場的電場和磁場場源探頭組
場源探頭組，包括各種尺寸和形狀的磁場場源探頭和電場場源探頭，最小分辨率可小于1mm?？梢赃B接到SGZ21信號源的輸出，向被測電路中的接地系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、集成電路、引腳、分立元件、關(guān)鍵布線、電纜、接插件等地方注入干擾，用于精確定位電路敏感點位置。
在利用SGZ21信號源和瞬態(tài)磁場探頭找出干擾電流的路徑之后，使用場源探頭，可以檢查該路徑周圍是否存在敏感的信號線或者器件，如果是器件，還應(yīng)該檢查是器件的哪個引腳。
不同的電路結(jié)構(gòu)，可能會對磁場敏感，也可能會對電場敏感。E1中的場源，有的是產(chǎn)生磁場的，有的是產(chǎn)生電場的，這樣可以確認EUT對哪種類型的干擾場敏感。
4．檢測集成電路敏感度的IC傳感器等
為了評估電路修改的有效性，特殊設(shè)計的IC傳感器S31能和EUT內(nèi)部器件一樣，感應(yīng)突發(fā)干擾對數(shù)字邏輯的影響，并把干擾情況通過光纖傳遞到計數(shù)器。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，配置有多種EMC傳感器，可以監(jiān)測PCB上的關(guān)鍵信號線、電源、地、電纜、接插件等被干擾的情況。
利用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)定位EFT/ESD問題的方法
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，在設(shè)備內(nèi)部仿真干擾的過程。能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，以定位電路板上的電磁薄弱點，理解耦合機理，并完成最優(yōu)化的設(shè)計修改。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能按照某個標準進行兼容性測試。所以建議先對被測物進行標準的抗干擾測試，然后對可能的故障原因進行分析，再利用E1來找出更多的故障原因，并利用E1在產(chǎn)品開發(fā)場地進行設(shè)計修改的評估。
測量的目的是再現(xiàn)在標準抗干擾測試時的功能故障，從而確認和評估干擾被耦合入和耦合出的路徑。
使用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，測量和定位EFT/ESD問題的一般步驟為：
1．故障粗略定位
檢查EUT的各個電路模塊，例如整塊PCB、PCB間的互聯(lián)電纜、PCB內(nèi)的電路功能模塊等。
取EUT的一塊PCB或者一部分電路，對該模塊的GND直接注入干擾：
* 兩極連接方式注入干擾：
把SGZ21信號源的兩個輸出，分別連接到電路模塊的GND上，判斷是否是磁場敏感。如果在這種方式下，EUT出現(xiàn)期望的功能故障，說明在這兩個GND節(jié)點之間存在的干擾電流路徑周圍，存在對磁場敏感的敏感點。
* 單極連接方式注入干擾：
把SGZ21信號源的其中一個輸出接到電路模塊的GND上，另一個輸出端接到EUT的機箱(可以用電場場源模擬機箱)，判斷是否是電場敏感。如果單極連接期間出現(xiàn)功能故障，可能是：
電場：直接由EUT和場源探頭間引起的故障；
磁場：流入電場的電流產(chǎn)生磁場，磁場被耦合到信號環(huán)路上，導致出現(xiàn)故障。
區(qū)分辦法：
在EUT的GND和附近的金屬物體之間建立一個很短的低阻抗的連接，從而消除電場的影響，如果不再出現(xiàn)那個已知的功能故障，就說明，那個已知的功能故障是由電場引起的。否則，這個故障可能是磁場引起的。
2．測量干擾電流路徑
通過"故障粗略定位"，把敏感點位置進行了粗略的定位，同時確定了電路敏感的性質(zhì)(磁場敏感或者電場敏感)。使用瞬態(tài)電磁場探頭，能測量EUT內(nèi)部突發(fā)磁場的相對強度，并可以測量出干擾電流的流向。利用瞬態(tài)磁場探頭測量時，能幫助你發(fā)現(xiàn)：
a. EUT內(nèi)哪里存在突發(fā)磁場？
b. EUT內(nèi)部的干擾電流是怎么流的？
c. 干擾電流有沒有流入集成電路的輸入和輸出？
d. 旁路電容有什么影響，應(yīng)該采用多大容值的電容？
e. 屏蔽連接的長度是如何影響旁路電流的？
3．精確定位敏感點
在把故障定位到模塊并測量出電流路徑之后，使用場源，能對敏感點進行精確定位：
首先是根據(jù)前面的測量結(jié)果來選擇場源，決定使用磁場場源或者電場場源。
再依據(jù)測量到的"電流路徑"，沿著干擾電流方向的路徑，使用相應(yīng)的場源對EUT注入干擾。E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)配備了不同分辨率的9種場源，選擇場源時，從大面積到小面積，選擇強度時，探頭由遠到近慢慢靠近EUT，從而最終確定敏感點的位置。
4．評估電路修改有效性
找出電路內(nèi)部存在的敏感點之后，開發(fā)人員會進行電路修改以改善EUT的抗干擾性能。為此，E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，使用了一套"脈沖率測量法"的技術(shù)，讓我們能對電路修改的有效性進行快速的評估。脈沖率測量法需要使用SGZ21發(fā)生器和傳感器。
SGZ21產(chǎn)生如圖6所示的，輸出脈沖無序的，峰值電平呈平均分布的脈沖信號，這樣就不需要發(fā)生器和計數(shù)器之間的同步。
例如，用放在EUT內(nèi)部的傳感器來監(jiān)視敏感的信號線，一旦檢測到這根信號線上有干擾，就會發(fā)出一個光脈沖。SGZ21上的計數(shù)器對這些光脈沖進行計數(shù)。在一個周期信號(1秒鐘)序列期間檢測到的計數(shù)值，代表著干擾門限所處的位置，即EUT的敏感度。
圖6中，如果在一個周期脈沖序列里檢測到11個脈沖，則干擾門限是u1，意味著注入電壓為u1的突發(fā)干擾，本區(qū)域就會遭受干擾；
如果檢測到的是3個脈沖，則干擾門限是u3。
檢測到的脈沖數(shù)越少，表明模塊設(shè)計得越好。
測量濾波器的濾波波形是一個非常典型的應(yīng)用：把SGZ21產(chǎn)生的干擾電流注入到EUT，S31傳感器測量EUT上受干擾的線上的信號，在SGZ21計數(shù)器上可以讀到計數(shù)值，修改濾波器后，再次測量。兩次測量結(jié)果的對比，就可以很清楚地告訴你，你的設(shè)計修改是否有效。
圖6 SGZ21的脈沖序列
5．實時監(jiān)視EUT工作狀態(tài)
在抗干擾測試時，盡可能快地明確地發(fā)現(xiàn)EUT內(nèi)的功能故障，是非常重要和關(guān)鍵的。然而，從外界來觀察的話，EUT故障經(jīng)常是不可見的，或者過一段時間才能發(fā)現(xiàn)。例如，EUT里的處理器，已經(jīng)死機了，但是顯示的還是正常的狀態(tài)，甚至顯示器上顯示的也是正常的信息。
為了進行有效的故障定位，有必要使用S31傳感器來提供與EUT功能有關(guān)的信息，例如用S31去監(jiān)視看門狗電路的后置觸發(fā)信號、片選信號等，以監(jiān)視EUT的工作狀態(tài)。SGZ21上的脈沖計數(shù)器可以監(jiān)視，并判斷設(shè)備是否在正常工作。你也可以把S31的光纖輸出連接到光纖接收器，光纖接收器把S31送來的光信號變?yōu)殡娦盘?，再連接到示波器上進行觀察和分析。
總線系統(tǒng)或者接口上的數(shù)據(jù)流，往往能反映系統(tǒng)的操作狀態(tài)。但是通過示波器或者邏輯分析儀來監(jiān)視是很浪費時間的，而且成本很高。采用SGZ21的計數(shù)器來監(jiān)視數(shù)據(jù)流，是一個快速的方法。由于數(shù)據(jù)的內(nèi)容會改變，而且計數(shù)器和數(shù)據(jù)包是不同步的，所以計數(shù)器上的值是會變化的。盡管如此，計數(shù)器上的值，還是能體現(xiàn)出EUT處于不同的工作狀態(tài)。這樣工程師就可以通過計數(shù)器顯示的結(jié)果來判斷設(shè)備的工作狀態(tài)。例如在EUT復位后重新啟動時記錄的值，就是代表了EUT當前的工作狀態(tài)。這樣，工程師就能在抗干擾測量中發(fā)現(xiàn)EUT是否復位了，還是在傳輸數(shù)據(jù)時經(jīng)常要重新發(fā)送，或者類似的由干擾引起的其他問題。
如果干擾脈沖正好出現(xiàn)在EUT的程序中要求嚴格的階段(例如正在通過接口進行數(shù)據(jù)傳輸)，就可能出現(xiàn)功能故障。出現(xiàn)功能故障的頻繁程度，取決于EUT的結(jié)構(gòu)。因此我們必須在適當?shù)碾妷弘娖缴蠝y量足夠長的時間，確保EUT不會產(chǎn)生功能故障。這種方法，是利用EUT出現(xiàn)故障作為敏感度的參考依據(jù)，在實際調(diào)試中需要花費大量精力和時間。
如果在EUT內(nèi)部某個位置安裝一個傳感器，傳感器的干擾門限是和時間無關(guān)的，我們可以利用傳感器的計數(shù)值，作為敏感度的參考依據(jù)。這樣的話，就不需要進行長時間的測量。這種方法特別適合于評估濾波器、屏蔽以及旁路的效果。
在實際工作中，電路內(nèi)部的IC和傳感器對快速干擾的敏感程度是不同的。所以可能會出現(xiàn)在干擾電壓增加時，EUT先被干擾了，而傳感器還沒有被干擾到，或者相反的情況。這時，需要建立一個EUT干擾門限和傳感器干擾門限的關(guān)系，如果在EUT上僅僅修改屏蔽或者濾波，則這種相對的關(guān)系會保持不變。傳感器干擾門限的改進，也意味著提高了EUT的抗干擾能力。
本文小結(jié)
對于EFT/ESD等突發(fā)的、高壓的、寬帶的干擾，傳統(tǒng)上難以測量，如果電子產(chǎn)品出現(xiàn)EFT/ESD問題，工程師只能憑經(jīng)驗去解決問題。E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，給工程師一個全新的測量概念，能快速定位電路存在的敏感點，并通過設(shè)計修改，能以最低的成本讓被測物通過相關(guān)的電磁兼容標準測試。
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