基于ATE測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻簡介

圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計的 ATE(自動測試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被測器件連接到 J1 和 J2。在工作時，來自被測器件的電流在采樣電阻 R8A 和 R8B 上形成一個電壓。放大器 IC2B 驅(qū)動 IC1 的基準(zhǔn)輸入端，并使反饋路徑閉合。當(dāng) R8A 和 R8B 上的壓降達(dá)到 Q2 的 VBE(ON) 時，晶體管 Q2 分流 Q1 的柵極驅(qū)動電流，提供過流保護(hù)功能。VO 和 IO 分別為輸出電壓和輸出電流，N 代表加到 IC1 的二進(jìn)制輸入的等效十進(jìn)制值，A 是放大級 IC2B 的增益。R1由 R1A 和 R1B 并聯(lián)組成。公式 1 描述了電路的負(fù)載電流：

求方程 2 的解就可得到電路的輸出電阻：

采用圖中所示元件參數(shù)值，電路的等效電阻范圍從全“0”二進(jìn)制輸入(即 N="0")的 5.5Ω左右至全“ 1” 二進(jìn)制輸入(即 N =255)的255Ω。

你可以修改電路的元件參數(shù)值來覆蓋其它電阻范圍。將 8 位 DAC08 換成 10 位 D/A 轉(zhuǎn)換器可提高電阻精度。為了加大電路的功率承受能力，可用更大功率的 MOSFET和一個合適尺寸的散熱器替換 Q1。電容器C3 和 C4 控制電路的帶寬。