ADI(亞德諾半導體)高級系統(tǒng)應用工程師Rob Reeder：“當然，這是必須考慮的”。
串擾可能來自幾種途徑
從印刷電路板(PCB)的一條信號鏈到另一條信號鏈，從IC中的一個通道到另一個通道，或者是通過電源時產(chǎn)生。理解串擾的關鍵在于找出其來源及表現(xiàn)形式，是來自相鄰的轉換器、另一個信號鏈通道，還是PCB設計?
三種串擾測試方式
第一種
最典型的串擾測試稱為相鄰串擾。這種串擾的表現(xiàn)形式是，當某個通道被以滿量程或接近滿量程驅動時，“被觀察”的通道或信號鏈處于開放狀態(tài)，即無信號注入。測量輸出頻譜時，可以在開放通道上觀察到高于本底噪聲的雜散。這種串擾定義了開放的受體通道和被驅動的干擾源通道之間的隔離。
有時，開放通道具有足夠的魯棒性，可以抑制來自一個被驅動通道的交叉耦合，但這只是一部分的抗串擾能力。
第二種
另一種串擾測試是以相同的頻率驅動系統(tǒng)中除一個通道外的其他所有通道，剩余的一個通道保持開放狀態(tài)。此時，所有干擾源的強度都通過開放通道來測量。
第三種
測量串擾的第三種方法是以不同的頻率和信號強度驅動兩個或兩個以上的通道，通過測試開放通道，觀察是否有被驅動通道產(chǎn)生的交叉耦合混頻產(chǎn)物的泄漏。此時，通過混頻效應，可以看到干擾源信號如何回落至目標頻帶。
最后，這三種測量方法都可以在輸入信號超量程(超過器件或信號鏈的滿量程)的情況下重復進行，有助于確定輸入信號被鉗位或通道飽和時開放通道的魯棒性。
↑ 上述測試均應涵蓋應用的整個目標信號范圍和頻率范圍，因為串擾有時會由PCB 設計不佳而引起，或在特定的工作條件下表現(xiàn)出來。更換器件沒有什么幫助，轉換器或多通道器件必須經(jīng)過全面測試，以確保足夠的魯棒性，從而滿足您的應用。
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