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[導(dǎo)讀] 此文著重談一下WLAN射頻部分測試基本要點,希望對剛剛涉及WLAN領(lǐng)域的朋友有一 定的幫助。另外此文主要著重于WLAN芯片的初期射頻測試,關(guān)于工程大規(guī)模自動化測試(類似batch處理等)不在此文討論范圍。

此文著重談一下WLAN射頻部分測試基本要點,希望對剛剛涉及WLAN領(lǐng)域的朋友有一 定的幫助。另外此文主要著重于WLAN芯片的初期射頻測試,關(guān)于工程大規(guī)模自動化測試(類似batch處理等)不在此文討論范圍。
關(guān)于測試, 我們從測試的硬件,軟件設(shè)置,測試環(huán)境構(gòu)建及測試項目來著重談一下。
第一部分, 測試設(shè)置

WLAN芯片的DUT,常見的基本是單功能的測試板或者是終端設(shè)備。 終端設(shè)備的WLAN射頻性能測試也一般都放在產(chǎn)品初期開發(fā)階段實施,目的是為了降低不良率帶來的成本損失。
單功能的測試板一般需要連接到電腦上的轉(zhuǎn)接卡。一般可以向芯片原廠索取或購買。現(xiàn)在隨著便攜式電腦的興起, 測試電腦用類似于樹莓派的簡易系統(tǒng)增多。筆者就曾見過有客戶專門用Armadillo平臺來搭建測試平臺。操作系統(tǒng)常用的為linux系較多。 當(dāng)然如果是基于windows系統(tǒng)(手機,電腦等)開發(fā),用Win系統(tǒng)的也很常見。 關(guān)于硬件的設(shè)置,下面兩點經(jīng)常需要注意, 第一是電源及Reg開關(guān)的引線的設(shè)置,WLAN芯片一般都有模擬和數(shù)字部分的電壓線,建議分布引出方便后面的電壓測試。Reg開關(guān)比如你只需要測試WLAN的話,需要把Combo芯片里BT的Reg引線接地,避免不必要的漏電流產(chǎn)生。 第二是注意I/F部分的設(shè)置,比如PCIE的接口的話, 需要關(guān)注一下設(shè)置是不是支持sleep模式(L1SS等)。
除了硬件設(shè)置,在軟件方面,我們也需要安裝一些常用的工具比如測試吞吐速率(Tput)的Iperf,接入遠程手機的teraterm或者putty等工具。還有一些常用編寫測試程序的語言工具(C#,python,Perl等)也經(jīng)常用的。
第二部分, 測試環(huán)境
根據(jù)筆者對802.11ac/n的測試經(jīng)驗, 下面是一些常用的測試儀器。
CMW270
R&S FSW/FSV (固件升級后可以現(xiàn)在可以支持11ac 160MHz模式)
LitepointIQXel系列 IQ2010等
Keysight N441x, N9x系列的Power meter
DC source N6705
Keysight的N4010 (只支持到11n)
N9030 (89601 option)
Reference router (廠商眾多,不一一列舉了)
上面是一個不完整列表, 比如我們還經(jīng)常用到數(shù)字程序衰減器,debug時常用的示波器等。
第三部分, 測試項目
這也是此文要重點談一下的部分。
接觸過WLAN測試的朋友都知道,射頻電流部分的測試,使用的固件由于芯片自身的ROM,RAM大小的限制不同于面向客戶的固件。 一些測試用的命令,功能通常只在測試版固件中得到支持。 而一些系統(tǒng)性的項目比如Tput,IEEE PS電流等,常常用面向客戶的固件來測。
1、發(fā)送端的測試:
根據(jù)IEEE 802.11標(biāo)準(zhǔn),發(fā)送端常用的測試項目包括
Tx EVM, Power, Transmit Spectrum Mask(22.3.18.1VHT) , ramp-up/down 時間,IQimbalance, Tx frequency accuracy等。 接收端常測的項目包括 Rx Sensitivity(Rxper) , Receiver adjacent channel rejection (ACI), RSSI.此外我們還經(jīng)常要測試LO leakage性能(22.3.18.4.2)。
除了上述射頻性能, 后面也簡單談一下Tput和電流的測試。
現(xiàn)代WLAN芯片,一般來說Tx比Rx更難調(diào)試,調(diào)試測試往往從Tx端開始的居多。 這里有個前提先討論一下, 很多芯片現(xiàn)在都是MIMO即2端口以后的居多。但是射頻測試初期階段我們往往先看單數(shù)據(jù)流(nss=1)模式的射頻性能。根據(jù)經(jīng)驗, 一般開啟多個數(shù)據(jù)流的情況下,射頻性能也往往趨于變壞,各端口不僅芯片內(nèi)外易受干擾,芯片溫度的上升也會導(dǎo)致性能變差。 比如下面就是2x2的測試實例,1個鏈路ON(siso)和2個鏈路(CDD,STBC模式)的性能在high power處還是有微小區(qū)別的。
基本上11a/g/n/ac的low rate的功率不受EVM要求限制, high rate的功率往往受EVM要求限制。 一般來說我們需要對CCK, 11a/g的54Mbps, 11n的mcs7, 11ac的mcs8nss1, mcs9nss1的rate測試。對CCK/DSSS rate來說, 各家wlan芯片表現(xiàn)不經(jīng)相同,有的是EVM限制power,有的則是spectrum mask限制power。 在邊緣channel如channel1, 11,13則會受到FCC band-edge power mask的限制。11b rate又是2.4G beacon的默認rate,為了保持良好的接入率, 各家終端廠商及運營商對11b rate的power要求一般都很高。IEEE對11b rate的EVM規(guī)格,從1999年版, 到2007年版,然后又在2012年版里做了3次修改。 細心的朋友可以去翻一下IEEE規(guī)格, 對比一下各測試儀的手冊,了解到底是用哪個版本做的測試。
對于11ac的high rate, 常常還會碰到EVM floor margin不夠的問題,除了芯片自身及板子調(diào)試的問題后,測試工程師還需要檢查測試儀器的設(shè)置, 比如channel estimation的設(shè)定會顯著影響OFDM rate的EVM性能。關(guān)于EVM性能的調(diào)試, 涉及到芯片固件或者BOM的影響, 我們將在后面的WLAN 射頻調(diào)試?yán)锪砥治觥?/div>
· Transmit spectrum mask及帶內(nèi)平坦性
IEEE 802.11 對各個band,各個帶寬都做了詳細定義。
如果你所購買的儀器里沒有類似的mask定義, 可以向廠商索取文件。
前面已經(jīng)談到,low rate的最高power更多是受mask限制。所以常常要測11b的各rate, 11a/g的6Mbps~9Mbps, 11n的mcs0, 11ac的mcs0nss1 rate。
帶內(nèi)平坦度的話,特別要看一下edge channel的性能,一般來說芯片廠商也提供可調(diào)的nvram參數(shù), 可以配合測試。 從芯片設(shè)計的角度來說, mask和EVM一般都存在折中的關(guān)系, 要想mask好, 帶內(nèi)filter cut-off提升, sub carrier的EVM性能受到影響。
2、接受端的測試。
· Rx PER
首先要測的就是接受靈敏度。 推薦在金屬shield環(huán)境下用conduct連接測試。
前文已經(jīng)談到,low rate,legacy模式如CCK的1/2Mbps敏感度對有些客戶來說,要求比較苛刻。 現(xiàn)代CMOS工藝往往不能滿足低噪聲要求, 一般會在外面接LNA。 我原先所在的公司的WLAN芯片, OFDM rate相對IEEE要求(見下圖), 一般有10dB的margin,可以來說問題都不大。 但是需要注意的是, 測試階段最好花時間測一下所有的channel。 芯片的晶振,VCO干擾或者是數(shù)字部分的clock噪聲都有可能落在某個channel里,產(chǎn)生的spur直接對靈敏度有殺傷性作用。
還有當(dāng)然要看一下channel之間的性能差是不是和Tx的Power能相關(guān)起來, 如果反應(yīng)的不是一樣的頻率特性, 則需要仔細檢查一下了。
· RSSI(received signal strength indicator)
RSSI其實是反映系統(tǒng)的一個指標(biāo), 往往用customer 固件測試比較多。 但是在RF測試階段,常常需要校正其值,使RSSI值在整個power 變化范圍內(nèi)誤差小于4dB(weak/strong level是6dB)。另外根據(jù)設(shè)計不同, 比如你用外部LNA和內(nèi)部LNA, 測出來的RSSI特性是不一樣的,用外部LNA,可能需要校正power兩頭的RSSI。 RSSI值是被客戶和芯片廠商用來直接作為系統(tǒng)控制引用的參數(shù),認真的客戶一般都會在終端上(含天線),測試over the air的RSSI值。 其值和吞吐率的RvR(Rate vs Range)是密切相關(guān)的。
3、接下來我們再談一下LO leakage的測試。
LO leakage
推薦剛?cè)腴T的朋友仔細讀一下IEEE標(biāo)準(zhǔn)。 LO leakage的規(guī)格是獨立出來單獨定義的??吹絆FDM輸出的中心頻帶有LO的信號不必大驚小怪, 只要其不影響EVM性能就好。
4、最后我們再談一下電流的測試。

電流的測試其實工程也挺浩大,主要包括IEEE定義的PM0, PM2模式及芯片的sleep模式,Tx,Rx等模式的電流。 隨著Tput上升,遇到PCIE接口, 還有設(shè)計到PCIE sleep控制等。
下圖是一例控制芯片從sleep模式恢復(fù)到wake up。 電流一般是數(shù)uA級別的值, 需要高精度的DC source。在實際情況中,運營商常常對手機WLAN模式電流也有一定的要求。 所以推薦使用客戶固件來測試。
題外篇
WLAN的測試?yán)锩妫畛踝尮P者感到困擾的是FCC及ETSI的Regulatory測試了。 關(guān)于這部分要寫的話,最好是另起篇幅細述較好。 比如FCC的Band-edge測試,朋友們都知道么其實有2種測試方法,15.205的方法和15.247的方法。 當(dāng)然這只是筆者寫此文(2016年)時的情況, 將來可能會有變化。一般來說我們只用15.205方法就好。 15.205里面又有Bandedge average detection和bandedge peak detection兩種。 Average看-41.3dBm的limit線, peak看-21.3dBmde 線。FCC的KDB文件(558074)對測試時頻譜儀的具體設(shè)置(VBW,RBW,trace mode, Dectector選取等)有較詳細的說明。偶爾,筆者也曾遇到過15.205測試通過的power level會在15.247(d)項目中fail.
小結(jié)
此文介紹了WLAN射頻測試的一些主要項目。包括測試設(shè)置,接收發(fā)的項目。基本涵蓋了初期需要了解的部分。限于篇幅限制,此文沒有介紹工廠產(chǎn)品測試,里面會設(shè)計如何優(yōu)化測試速度,以及在接受發(fā)送之間的switching控制。

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