德豪潤(rùn)達(dá)計(jì)劃在2018年底開(kāi)始量產(chǎn)MiniLEDwithBump

德豪潤(rùn)達(dá)芯片事業(yè)部從2017年開(kāi)始Mini LED背光芯片與模組開(kāi)發(fā)，目前可以提共完整的芯片以及背光模組解決方案（圖一）：Mini LED芯片定制、Mini LED基板設(shè)計(jì)與外包、以及Mini LED背光模組開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)。德豪潤(rùn)達(dá)在2018年初把首條Mini LED背光模組專(zhuān)用生產(chǎn)線設(shè)在大連，專(zhuān)用線也已經(jīng)在2018年7月開(kāi)始運(yùn)行并出貨。

首條Mini LED背光模組生產(chǎn)線建在大連的目的是為了利用德豪潤(rùn)達(dá)在傳統(tǒng)照明應(yīng)用中已有的倒裝LED芯片與倒裝LED COB（Chip on Board）封裝的經(jīng)驗(yàn)與優(yōu)勢(shì)。把Mini LED背光模組的2大關(guān)鍵技術(shù)：倒裝LED芯片、倒裝LED COB技術(shù)整合在一個(gè)廠區(qū)，有效的加速了德豪潤(rùn)達(dá)在Mini LED背光模組的開(kāi)發(fā)。

圖一：德豪潤(rùn)達(dá)芯片事業(yè)部Mini背光模組解決方案

Mini LED背光模組雖然已具備可量產(chǎn)方案，但在從小批量轉(zhuǎn)規(guī)模化生產(chǎn)的過(guò)程中，需要提升良率和可靠性。

按照德豪潤(rùn)達(dá)的定義，不良 （Defect）為回流后LED無(wú)法正常點(diǎn)亮或焊接外觀不良LED顆數(shù)。DPMO （Defects Per Million Opportunities）從2018年Q1的≤3000 DPMO下降到2018年Q3的≤500 DPMO。目前的不良率降低（Defect ReducTIon）計(jì)劃效果有達(dá)到預(yù)期，德豪潤(rùn)達(dá)2018年Q4 DPMO目標(biāo)為≤100 DPMO。良率將隨產(chǎn)量持續(xù)提升。

從德豪潤(rùn)達(dá)Mini LED背光模組專(zhuān)用生產(chǎn)線在第三季度的不良類(lèi)別分析（圖二）來(lái)看，Open與Short不良加起來(lái)占了總不良的90%。而Open與Short不良主要根源來(lái)自于焊接材料印刷有關(guān)。焊接材料印刷不良主要原因有：印刷工藝本身的問(wèn)題、基板平整度問(wèn)題、以及基板漲縮問(wèn)題。管控焊接材料的印刷，必定能大幅度減少回流焊后不良率。

圖二：德豪潤(rùn)達(dá)Mini LED背光模組專(zhuān)用生產(chǎn)線在第三季度不良類(lèi)別分析

集成電路中的Flip Chip器件在芯片焊盤(pán)上沉積焊料凸點(diǎn)，用于連接到外部電路，實(shí)現(xiàn)電和機(jī)械連接。德豪潤(rùn)達(dá)為管控焊接材料，減少回流焊后不良，在Mini LED采用同概念，在LED焊盤(pán)上形成焊料凸點(diǎn)（圖三）：

圖三：德豪潤(rùn)達(dá)帶有焊料凸點(diǎn) Mini LED （Mini LED with Bump）

通過(guò)晶圓級(jí)工藝在Mini LED芯片焊盤(pán)上沉積焊料凸點(diǎn)。此芯片技術(shù)在Mini背光模組封裝可以帶來(lái)以下效率、良率、可靠性提升：

? Mini LED固晶時(shí)無(wú)需在PCB版上刷焊錫膏，簡(jiǎn)化Mini LED背光模組制程；

? 避免PCB板上焊錫膏印刷不良；

? 晶圓級(jí)工藝可以良好控制焊料量和厚度，提高焊接重復(fù)性和可靠性；

? 降低對(duì)基板精度、平整度、漲縮要求（提高基板良率、降低基板成本）。

Mini LED with Bump技術(shù)已經(jīng)從芯片至模組完成可行性驗(yàn)證，目前正在進(jìn)行晶圓級(jí)焊料凸點(diǎn)工藝優(yōu)化。德豪潤(rùn)達(dá)芯片事業(yè)部計(jì)劃在2018年底開(kāi)始量產(chǎn)Mini LED with Bump。