Deca攜手日月光和西門子推出APDK?設(shè)計(jì)解決方案

亞利桑那州，坦佩——2021年4月1日——業(yè)界領(lǐng)先的先進(jìn)半導(dǎo)體封裝純工藝技術(shù)供應(yīng)商Deca公司宣布推出全新的APDK?(自適應(yīng)圖案®設(shè)計(jì)套件)解決方案。該解決方案是Deca與日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司(ASE)和西門子數(shù)字工業(yè)軟件公司的合作成果。

Deca與全球領(lǐng)先的先進(jìn)封裝供應(yīng)商ASE和西門子的Calibre®平臺(tái)(業(yè)界設(shè)計(jì)驗(yàn)證的金牌標(biāo)準(zhǔn))緊密合作，使終端客戶能夠認(rèn)識(shí)到自適應(yīng)圖案的強(qiáng)大功能。在實(shí)現(xiàn)突破性電氣性能的同時(shí)，現(xiàn)今先進(jìn)異構(gòu)集成設(shè)計(jì)的各個(gè)方面都能保證在制造能力范圍內(nèi)。

每個(gè)APDK都將全套自動(dòng)化、設(shè)計(jì)規(guī)則、設(shè)計(jì)規(guī)則檢查(DRC)平臺(tái)和模板集于一個(gè)軟件包中，提供了一個(gè)交鑰匙的設(shè)計(jì)流程。每項(xiàng)設(shè)計(jì)均由模板啟動(dòng)，同時(shí)廣泛的自動(dòng)化指導(dǎo)設(shè)計(jì)者從初始布局到自適應(yīng)圖案模擬，最后使用西門子的Calibre軟件完成設(shè)計(jì)簽收。APDK已在ASE取得成果，它正在迎來(lái)一個(gè)高密度、異構(gòu)集成的新時(shí)代。

通過(guò)其OSAT聯(lián)盟計(jì)劃，西門子數(shù)字工業(yè)軟件已加入Deca的AP Live網(wǎng)絡(luò)，這是一個(gè)不斷發(fā)展的供應(yīng)鏈生態(tài)系統(tǒng)，包括電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)供應(yīng)商和原始設(shè)備制造商(OEM)。Deca的AP Studio模塊將自適應(yīng)圖案設(shè)計(jì)流程與西門子的EDA產(chǎn)品進(jìn)行整合，提供了一個(gè)整體設(shè)計(jì)解決方案以及一個(gè)經(jīng)驗(yàn)證的平臺(tái)。

"在整個(gè)行業(yè)內(nèi)，先進(jìn)封裝解決方案，例如M系列，是摩爾定律持續(xù)延伸的關(guān)鍵。通過(guò)自適應(yīng)圖案，我們已解決關(guān)鍵制造難題，現(xiàn)在隨著第一款A(yù)PDK的推出，我們正在解決設(shè)計(jì)方面的復(fù)雜問(wèn)題。設(shè)計(jì)人員需要一個(gè)全棧解決方案，以迅速推出新產(chǎn)品，并對(duì)最終結(jié)果抱有高度信心，我們相信我們的APDK能實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。"Deca Technologies公司首席技術(shù)官Craig Bishop說(shuō)道。

"ASE為客戶帶來(lái)自動(dòng)化設(shè)計(jì)支持的愿景正在通過(guò)一個(gè)強(qiáng)大的解決方案實(shí)現(xiàn)，該解決方案可同時(shí)解決單芯片和異構(gòu)集成參數(shù)。"，ASE營(yíng)銷和技術(shù)推廣資深副總裁Rich Rice表示，他繼續(xù)說(shuō)道："通過(guò)M系列的量產(chǎn)，我們始終如一地實(shí)現(xiàn)卓越質(zhì)量，同時(shí)鞏固了我們?cè)谏瘸鲂图夹g(shù)方面的領(lǐng)導(dǎo)地位。我們感到特別高興的是，我們的設(shè)計(jì)人員和客戶都可以優(yōu)化Deca的APDK框架功能，以提供具可預(yù)測(cè)性和可信賴的下一代扇出型產(chǎn)品設(shè)計(jì)。"

"多年來(lái)，業(yè)界始終信賴Calibre軟件作為其驗(yàn)證簽收平臺(tái)。將Calibre eqDRC和可編程邊緣移動(dòng)功能整合到這個(gè)新的APDK框架中，有助于實(shí)現(xiàn)包含在Deca的AP Studio模塊中的自適應(yīng)圖案設(shè)計(jì)流程進(jìn)行自動(dòng)化和驗(yàn)證。這有助于設(shè)計(jì)人員增添信心，讓他們相信首關(guān)即可成功。"西門子數(shù)字工業(yè)軟件公司Calibre設(shè)計(jì)解決方案產(chǎn)品管理副總裁Michael Buehler Garcia表示。

關(guān)于自適應(yīng)圖案?

Deca創(chuàng)新的自適應(yīng)圖案技術(shù)使得設(shè)計(jì)人員和制造商不會(huì)局限于固定光罩，使生產(chǎn)流程能夠考慮到自然變化，而無(wú)需昂貴的工藝或設(shè)計(jì)限制。與以往技術(shù)相比，AP在產(chǎn)品通過(guò)制造流程時(shí)，實(shí)時(shí)地在每個(gè)設(shè)備上定制每個(gè)光刻層，以確保盡可能高的良品率和超細(xì)互連間距大通路接觸點(diǎn)的最高性能設(shè)計(jì)規(guī)則。通過(guò)與APDK框架結(jié)合，AP提供了一個(gè)從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的無(wú)縫流程。