測(cè)試新體驗(yàn)|如何解決DDR內(nèi)存系統(tǒng)測(cè)試難題？

1. 如何連接DDR內(nèi)存管腳；
   
2. 如何探測(cè)和驗(yàn)證突發(fā)的讀寫(xiě)脈沖信號(hào)；
   
3. 配置測(cè)試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測(cè)試。
   

• 完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規(guī)范測(cè)試的項(xiàng)目
  

• 自動(dòng)實(shí)現(xiàn)突發(fā)Write/Read信號(hào)分離，可以在同一次采集數(shù)據(jù)中完成參數(shù)測(cè)試；
  

• 對(duì)控制器端可以自定義修改電平門(mén)限，適用不同存儲(chǔ)接口的設(shè)計(jì)；
  

• 支持CMD總線解碼，更加直觀的反應(yīng)內(nèi)存總線讀寫(xiě)時(shí)序；
  

• 同時(shí)兼顧標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和單項(xiàng)調(diào)試，可以用于產(chǎn)品調(diào)試和驗(yàn)證環(huán)節(jié)；
  

• 自動(dòng)生成一致性測(cè)試報(bào)告，匯總測(cè)試數(shù)據(jù)和關(guān)鍵波形截圖
  

• TDP77系列三模探頭，提供DDR測(cè)試專用FLEXB柔性連接附件，針對(duì)DDR芯片/顆粒狹小空間設(shè)計(jì)，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號(hào)連接
  

系統(tǒng)中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信號(hào)采集與分析設(shè)備，具有12bits高分辨率ADC，uV級(jí)的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準(zhǔn)確捕獲和分析DDR讀寫(xiě)和控制信號(hào)FlexChannel技術(shù)通過(guò)TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉(zhuǎn)變?yōu)?路數(shù)字通道，實(shí)現(xiàn)數(shù)字通道測(cè)試。

• 無(wú)需參考復(fù)雜的JEDEC規(guī)范，快速測(cè)試關(guān)鍵指標(biāo)系統(tǒng)參數(shù)，找到系統(tǒng)潛在風(fēng)險(xiǎn)；泰克提供與JEDEC聯(lián)合發(fā)布的測(cè)試MOI，指導(dǎo)使用者輕松完成信號(hào)連接、儀器設(shè)置與全自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試
  
• 通過(guò)探頭可以將系統(tǒng)工作時(shí)的波形準(zhǔn)確的采集下，提供最直接最深入的信號(hào)接口時(shí)序/幅度信息，無(wú)需設(shè)置特定的測(cè)試場(chǎng)景；
  

• 對(duì)特殊場(chǎng)景下DDR/LPDDR的應(yīng)用提供測(cè)試能力，可以確保系統(tǒng)性能的前提下找到芯片工作的極限條件；
  

• 無(wú)需人工進(jìn)行READ/WRITE的區(qū)分，全自動(dòng)軟件判斷，或者通過(guò)CMD總線進(jìn)行聯(lián)合調(diào)試，發(fā)現(xiàn)潛在的時(shí)序風(fēng)險(xiǎn)；

核心技術(shù)指標(biāo)

1. 模擬通道數(shù)：不小于4通道