新型缺陷地結(jié)構(gòu)定向耦合器的耦合度研究
引言
隨著通信、電子技術的發(fā)展,被廣泛使用的微波電路朝著集成化、小型化方向不斷發(fā)展。元件尺寸和性能成為衛(wèi)星通信、雷達系統(tǒng)等電子系統(tǒng)設計的主要因素。相繼問世的PBG(電磁帶隙)、DGS(缺陷地結(jié)構(gòu))、SIW(基片集成波導)等新結(jié)構(gòu)為微波電路的設計帶來了新的活力。
光子帶隙結(jié)構(gòu)(PhotonicBandgap,PBG)是一種介質(zhì)材料在另一種介質(zhì)材料中周期分布所組成的周期性陣列結(jié)構(gòu),由于其在某些頻段內(nèi)具有帶阻特性,所以在微波頻段得到了廣泛應用。然而PBG結(jié)構(gòu)由于其模型復雜、周期性特點導致其物理尺寸較大,所以在實際應用中存在一定困難。在此基礎上,韓國學者JutrSeekPark和Chui-SooKim等人提出缺陷地結(jié)構(gòu)(DefectedGroundStructure-DGS),DGS是在微帶、共面波導等傳輸線的接地金屬板上刻蝕周期或非周期的各種柵格結(jié)構(gòu),以改變電路襯底有效介電常數(shù)的分布,從而改變基于該介質(zhì)上傳輸線的分布電感和分布電容,使此類傳輸線具有帶隙特性和慢波特性。由于DGS的單極點低通特性、慢波效應和高特性阻抗等獨特性能,使得其廣泛應用于微波無源、有源電路、天線等設計當中。
本文首先研究了DGS的基本特性,并在此基礎上設計了一種新型定向耦合器,最后分析研究了缺陷地結(jié)構(gòu)對該耦合器耦合度的影響。
1 DGS的基本結(jié)構(gòu)和特性
傳統(tǒng)的DGS單元為啞鈴型,由兩個正方形和它們之間的一個狹槽構(gòu)成。圖1所示為一段缺陷地結(jié)構(gòu)(DGS),圖中的虛線部分為刻蝕于介質(zhì)襯底的背面接地金屬板上的“啞鈴型”DGS結(jié)構(gòu)。它由兩個邊長為的正方形和一個狹縫組成。狹縫的寬度為給g,其高度與微帶線的寬度一致,均為w,圖2給出了該結(jié)構(gòu)的典型頻率響應曲線。由圖2可以看出,DGS結(jié)構(gòu)的微帶線具有高阻特性,能產(chǎn)生明顯的阻帶,該單元可近似等效為一個并聯(lián)的RLC諧振電路,其等效電路如圖3所示。
DGS單元尺寸的變化會引起微帶線的等效電感、電容的變化,從而實現(xiàn)所需的帶阻特性。
2 DGS微帶定向耦合器的分析設計
傳統(tǒng)微帶線定向耦合器為四端口網(wǎng)絡,基本工作原理如圖4所示。當電磁波從端口1輸入時,除了有一部分能量直接從端口2輸出外,通過兩線之間的電磁耦合,還有部分能量從端口3或4輸出。由于電場耦合在副線中向端口3和端口4產(chǎn)生的電壓是等幅同相的,而磁場耦合在副線中向端口3和端口4產(chǎn)生的電壓是等幅反相的。因此,副線中端口4處的電壓是同相疊加,而副線中端口3處的電壓是反向而抵消的,這種定向耦合器稱為反向定向耦合器。
它的耦合系數(shù)為:
式中,是奇模下的有效介電常數(shù)。由此可以看出,可以通過DGS結(jié)構(gòu)改變有效介電常數(shù),從而控制耦合器的耦合系數(shù)。
在偶模下,電場是對稱的,通常在耦合器的中間線部分是不連續(xù)的,DGS結(jié)構(gòu)相當于開路,這樣就可以把它看做一個串聯(lián)的短截線,信號會通過這個串聯(lián)的短截線進行傳播,因而其傳播的路徑會變長,這相當于信號的傳播速度被DGS結(jié)構(gòu)減慢了,圖5所示是偶模電場下的信號傳播示意圖。
在奇模下,電場是不對稱的,在耦合器的中間線部分是連續(xù)的,DGS結(jié)構(gòu)相當于短路,信號依然將通過原來的路徑進行傳播,因而其信號的傳播速度并不受DGS結(jié)構(gòu)的影響。圖6所示是奇模電場下的信號傳播示意圖。
由以上分析可知,在偶模下信號的傳播速度會被DGS結(jié)構(gòu)減慢,在奇模下信號的傳播速度不會受DGS結(jié)構(gòu)的影響。對于有效介電常數(shù),則有:
可見,有效介電常數(shù)與信號的相速是成反比例關系的,有效介電常數(shù)會隨著相速的減慢而迅速增加。使用的DGS結(jié)構(gòu)越多,相速會越慢,有效介電常數(shù)就會越大,甚至可以得到比基本介電常數(shù)更大的有效介電常數(shù)。因此,耦合系數(shù)會隨DGS結(jié)構(gòu)的數(shù)量增多而增大。
3實物測試
本文設計了一個中心頻率在2.45GHz的DGS結(jié)構(gòu)微帶定向耦合器,為研究分析DGS結(jié)構(gòu)對耦合器耦合度的影響,分別設計測試了四種不同結(jié)構(gòu)進行比較。圖7所示是四種不同結(jié)構(gòu)的測試結(jié)果。其翕測試結(jié)果如表1所列。
由以上測試結(jié)果可知,隨著使用的DGS結(jié)構(gòu)數(shù)量的增多,定向耦合器耦合系數(shù)會不斷增大,但是,增大的幅度會越來越小。最終設計的實物圖如圖8所示。
4結(jié)語
本文使用缺陷地結(jié)構(gòu)控制定向耦合器的耦合系數(shù),并分析和驗證了該缺陷地結(jié)構(gòu)對耦合器耦合度的影響。由分析和測試可知,隨著DGS結(jié)構(gòu)數(shù)量的增多,耦合器耦合系數(shù)會不斷增大。