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[導(dǎo)讀]寫在前面MOS管是常用的電子元器件,由于導(dǎo)通內(nèi)阻小,在電源、電力電子、電機(jī)控制等行業(yè)應(yīng)用廣泛。既然常用,那么遇到失效的概率就非常大。好在MOS管的失效就那幾種情況,今天和大家分享一下MOS管的幾種失效模式。失效模式一:雪崩如果在漏極-源極間外加超出器件額定VDSS的電涌電壓,而且...

寫在前面

MOS管是常用的電子元器件,由于導(dǎo)通內(nèi)阻小,在電源、電力電子、電機(jī)控制等行業(yè)應(yīng)用廣泛。既然常用,那么遇到失效的概率就非常大。好在MOS管的失效就那幾種情況,今天和大家分享一下MOS管的幾種失效模式。

失效模式一:雪崩


如果在漏極-源極間外加超出器件額定VDSS的電涌電壓,而且達(dá)到擊穿電壓V(BR)DSS (根據(jù)擊穿電流其值不同),并超出一定的能量后就發(fā)生破壞的現(xiàn)象。
在介質(zhì)負(fù)載的開關(guān)運(yùn)行斷開時(shí)產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會(huì)引起雪崩破壞。
典型電路:

失效模式二:器件發(fā)熱


由超出安全區(qū)域引起發(fā)熱而導(dǎo)致的。發(fā)熱的原因分為直流功率和瞬態(tài)功率兩種。
直流功率原因:外加直流功率而導(dǎo)致的損耗引起的發(fā)熱導(dǎo)通電阻RDS(on)損耗(高溫時(shí)RDS(on)增大,導(dǎo)致一定電流下,功耗增加)●由漏電流IDSS引起的損耗(和其他損耗相比極?。?/span>瞬態(tài)功率原因:外加單觸發(fā)脈沖負(fù)載短路開關(guān)損耗(接通、斷開) *(與溫度和工作頻率是相關(guān)的)內(nèi)置二極管的trr損耗(上下橋臂短路損耗)(與溫度和工作頻率是相關(guān)的)
器件正常運(yùn)行時(shí)不發(fā)生的負(fù)載短路等引起的過(guò)電流,造成瞬時(shí)局部發(fā)熱而導(dǎo)致破壞。另外,由于熱量不相配或開關(guān)頻率太高使芯片不能正常散熱時(shí),持續(xù)的發(fā)熱使溫度超出溝道溫度導(dǎo)致熱擊穿的破壞。

失效模式三:寄生二極管損壞


在DS端間構(gòu)成的寄生二極管運(yùn)行時(shí),由于在Flyback時(shí)功率MOSFET的寄生雙極晶體管運(yùn)行,導(dǎo)致此二極管破壞的模式。

失效模式四:由寄生振蕩導(dǎo)致的破壞


此破壞方式在并聯(lián)時(shí)尤其容易發(fā)生在并聯(lián)功率MOS FET時(shí)未插入柵極電阻而直接連接時(shí)發(fā)生的柵極寄生振蕩。高速反復(fù)接通、斷開漏極-源極電壓時(shí),在由柵極-漏極電容Cgd(Crss)和柵極引腳電感Lg形成的諧振電路上發(fā)生此寄生振蕩。當(dāng)諧振條件(ωL=1/ωC)成立時(shí),在柵極-源極間外加遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于驅(qū)動(dòng)電壓Vgs(in)的振動(dòng)電壓,由于超出柵極-源極間額定電壓導(dǎo)致柵極破壞,或者接通、斷開漏極-源極間電壓時(shí)的振動(dòng)電壓通過(guò)柵極-漏極電容Cgd和Vgs波形重疊導(dǎo)致正向反饋,因此可能會(huì)由于誤動(dòng)作引起振蕩破壞。

失效模式五:柵極電涌、靜電破壞



主要有因在柵極和源極之間如果存在電壓浪涌和靜電而引起的破壞,即柵極過(guò)電壓破壞和由上電狀態(tài)中靜電在GS兩端(包括安裝和和測(cè)定設(shè)備的帶電)而導(dǎo)致的柵極破壞

哪些把人笑哭的奇葩注釋
PCB板畫廢了,才知道阻抗設(shè)計(jì)這么重要!
CAN總線很難嗎?CAN總線看不懂是不可能的!
怎么看懂芯片的時(shí)序圖?怎么根據(jù)時(shí)序圖編程?

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