恒流測(cè)壓方法、惠斯通電橋(單臂電橋)和雙臂電橋方法
1 恒流測(cè)壓方法
圖中, r 是引線電阻與接觸電阻之和;I 是程控恒流電流源; V 是具有極高輸入阻抗的電壓表,它對(duì)恒流電流源不產(chǎn)生分流作用。施加已知的恒定電流I,流過(guò)被測(cè)電阻R t,然后測(cè)量出電阻兩端的電壓V,當(dāng)R t>> r 時(shí),根據(jù)公式Rt=V/ I 就可算出電阻值。
2 惠斯通電橋方法
圖2 中,V1,V 2 是程控恒電壓源;Rstd 是標(biāo)準(zhǔn)電阻; Rt 是被測(cè)電阻;I 是電流表。當(dāng)電橋平衡即流過(guò)電流表I 的電流為零時(shí),有V1 /V2=Rstd/R t,由此可計(jì)算出Rt=R std×V2/V1 。
3 雙臂電橋方法
單臂電橋測(cè)量范圍為10~106歐,單電橋測(cè)幾歐姆的低電阻時(shí),引線電阻和接觸電阻已經(jīng)不可忽略。而雙臂電橋適用于10-6~102歐電阻的測(cè)量,它是改進(jìn)的單臂電橋,如圖3。將電橋中的中低電阻 Rt 和R 改成四端接法,并在橋路中增加兩個(gè)高阻電阻R3 和R4,則大大降低了引線電阻和接觸電阻的影響。 當(dāng)被測(cè)電阻阻值遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于測(cè)試引線電阻和測(cè)試探針與測(cè)試點(diǎn)的接觸電阻時(shí),采用圖1 所示的兩線測(cè)試的基本方法是可行的,并且也可以獲得相當(dāng)高的測(cè)試精度。