反射光強度的檢測電路(CD4052B、CD4011B)
如圖所示為反射光強度的檢測電路。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管、CMOS模擬開關(guān)、運算放大器等組成。 電路正常工作時,首先使紅外發(fā)光二極管(LED)不發(fā)光,光電二極管接收到的外部干擾信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至負(fù)方向積分電路,設(shè)此段時間為T1;然后使LED發(fā)光,光電二極管接收到的光信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至正方向積分電路,設(shè)此段時間為T2。設(shè)T1=T2。則電路顯示出來所保持的信號與外部干擾無關(guān),僅與反射光強度有關(guān)。保持信號的這段時間稱為保持時間,記為T3。相應(yīng)積分器復(fù)位對應(yīng)的時間為T4。在工作頻率(50Hz或60Hz)下,為了有效地避免同步外部干擾,最好使T1=T2=N/f(N取整數(shù),f為工作頻率),或者取T1=T2<<1/f。該電路結(jié)構(gòu)簡單,使用輸出功率為5~10mW的紅外發(fā)光二極管和光電二極管,可在距離10~100mm處檢測反射光強度。電路中運算放大器的輸入偏置電流應(yīng)遠(yuǎn)小于光電流。電路增益取決于積分時間和積分電容Ci。本電路除了可以排除干擾檢測反射光強度(反射光率)外,還可用于檢測距離、傾斜和通過率,特別適用于檢測各種光強。此外,本電路還可用于霍爾元件的磁性測量及其他測量。