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[導(dǎo)讀]發(fā)射光譜層析(EST)技術(shù)是一種不干擾原待測場分布的測量診斷技術(shù),他在熱物理量測試、等離子體診斷等方面顯示出了極大的優(yōu)越性,尤其是在場分布測量方面,幾乎是其他方法不可替代的,是測量三維流場內(nèi)部物理量分布的一種常用方法。 傳統(tǒng)的層析重建技術(shù),通常是利用軟件編程在計算機(jī)上直接完成,這要花費(fèi)很長的時間,無法滿足實(shí)時重建時對速度的要求,現(xiàn)在已有研究者開始著手研究在硬件(例如FPGA和DSP)上來實(shí)現(xiàn)層析重建技術(shù),例如:在FPGA上實(shí)現(xiàn)ART算法。但是,由于ART算法在重建圖像時對噪聲的抑制能力較差,迭代格式

1 引 言

發(fā)射光譜層析(EST)技術(shù)是一種不干擾原待測場分布的測量診斷技術(shù),他在熱物理量測試、等離子體診斷等方面顯示出了極大的優(yōu)越性,尤其是在場分布測量方面,幾乎是其他方法不可替代的,是測量三維流場內(nèi)部物理量分布的一種常用方法。

傳統(tǒng)的層析重建技術(shù),通常是利用軟件編程在計算機(jī)上直接完成,這要花費(fèi)很長的時間,無法滿足實(shí)時重建時對速度的要求,現(xiàn)在已有研究者開始著手研究在硬件(例如FPGA和DSP)上來實(shí)現(xiàn)層析重建技術(shù),例如:在FPGA上實(shí)現(xiàn)ART算法。但是,由于ART算法在重建圖像時對噪聲的抑制能力較差,迭代格式復(fù)雜,且有除法運(yùn)算,用FPGA實(shí)現(xiàn)起來較為復(fù)雜。同時迭代重建算法--SIRT能夠有效抑制測量誤差的影響,迭代格式簡單,得到廣泛應(yīng)用,但該法用FPGA(現(xiàn)場可編程邏輯門陣列)來實(shí)現(xiàn)時,牽涉到小數(shù)運(yùn)算問題。因?yàn)樵贔PGA中數(shù)據(jù)都是以二進(jìn)制形式參與存儲、運(yùn)算的,小數(shù)計算問題是FPGA應(yīng)用中的一大難點(diǎn),目前業(yè)界用FPGA來處理小數(shù)大都采用定點(diǎn)處理,這種方法行之有效,但應(yīng)用范圍很有限,對于在層析重建中的小數(shù),采用定點(diǎn)運(yùn)算是無法處理的。

本文提出一種處理小數(shù)的方法,即把將要參與運(yùn)算的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù),然后調(diào)用Altera開放的浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算IP核對數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算,Altera提供的IP核是Altera公司經(jīng)過嚴(yán)格測試和優(yōu)化過的電路功能模塊,在設(shè)計項(xiàng)目時調(diào)用IP核既減少了設(shè)計中的工作量,又在一定程度上節(jié)省了芯片資源,為迭代層析實(shí)時重建提供了可能。SIRT算法較ART算法迭代格式簡單,且更易減小重建誤差,提高重建速度,更適用于實(shí)時重建。FPGA在設(shè)計時采用Verilog編程和調(diào)用Altera的開放IP核相結(jié)合的方法來實(shí)現(xiàn),軟件設(shè)計和綜合模擬仿真在QuartusⅡ5.1開發(fā)平臺中完成,最后給出了一些模塊仿真的波形。

2 SIRT算法

SIRT算法的迭代格式為:

其中P是測量數(shù)據(jù),WT是投影矩陣W的轉(zhuǎn)置,λ為松弛因子,F(xiàn)是重建量。

物理意義為:取測量向量的反投影作為初始圖像,在求k+1次估計F(k+1)時,利用k次估計F(k)加上校正圖像。校正圖像正比于第k次估計的誤差矢量的反投影WT*(P-W*F(k))。因而每個像素的校正值實(shí)際是通過該像素的所有射線和的誤差值之累加,而不是只與一條射線有關(guān),這也是SIRT能有效地抑制測量數(shù)據(jù)中噪聲的根本原因。由于每一像素的校正值是所有過該像素射線的共同貢獻(xiàn),一些隨機(jī)誤差被平均掉了,因此SIRT的校正過程被稱為逐點(diǎn)校正。其中松弛因子的選取,會對誤差收斂曲線產(chǎn)生影響,如果環(huán)境不變,松弛因子可以固定。 3 IEEE754對浮點(diǎn)數(shù)的規(guī)定

標(biāo)準(zhǔn)浮點(diǎn)數(shù)字長由一個符號位S、指數(shù)E和無符號(小數(shù))的規(guī)格化尾數(shù)M構(gòu)成。其格式如下:


考慮一個由一位符號位,E=8位指數(shù)寬度和M=23位的尾數(shù)(不包括隱藏的1)組成的浮點(diǎn)數(shù)表達(dá)式。現(xiàn)在來研究545.2510在單精度浮點(diǎn)數(shù)格式下的表達(dá)形式。由bias=2E-1-1計算偏移量如下:

定義二進(jìn)制浮點(diǎn)數(shù)算法的IEEE754-1985標(biāo)準(zhǔn)還定義了一些其他有用的特殊數(shù)的處理,例如溢出和下溢。指數(shù)E=Emax=1…12與0尾數(shù)m=0組合是為∞保留的,0是用0指數(shù)E=Emin=0…02和與0尾數(shù)m=0編碼的,注意由于有符號尾數(shù)表達(dá)式、正零和負(fù)零編碼是不同的,在IEEE754標(biāo)準(zhǔn)中還定義了兩個特殊數(shù),但在FPGA浮點(diǎn)數(shù)算法中通常都不支持這些其他的表達(dá)式。這些其他數(shù)字是非正規(guī)數(shù)和(denormal)NaNs(not a number,非數(shù)字)。

4小數(shù)的預(yù)處理

IP核來計算數(shù)據(jù)時,輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)都應(yīng)為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù),這樣就要求在進(jìn)行浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算之前,先要對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理使測量值P和投影矩陣W的值轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)的二進(jìn)制浮點(diǎn)數(shù)。

預(yù)處理步驟如下:

(1)對于測量數(shù)據(jù)P,他是由CCD采集并經(jīng)10位A/D轉(zhuǎn)換,使測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為10位二進(jìn)制整數(shù),然后經(jīng)過數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊,把數(shù)據(jù)處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù),輸入到外部寄存器P等待調(diào)用。

(2)對于投影矩陣W,如果圖像大小一定,則投影矩陣W也是固定的,可先由Matlab仿真生成并處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù),然后存到W寄存器,等待調(diào)用。

在此只討論由FPGA處理的部分,即只討論對測量數(shù)據(jù)P的預(yù)處理,而對于W矩陣的值則可由Matlab編程處理完成,在此不再贅述。

流程圖如圖2所示。

5模擬與仿真

對于測量值P,他是由面陣CCD采集,并經(jīng)有自制的10位A/D轉(zhuǎn)換得來的二進(jìn)制整數(shù),根據(jù)其數(shù)據(jù)特點(diǎn),可以采用移位,然后按規(guī)律重組就能將其變?yōu)镮EEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)。

5.1預(yù)處理P的模塊

測量數(shù)據(jù)P為二進(jìn)制整數(shù),將其轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式,只需要先對數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測,若數(shù)據(jù)為正則符號位S=0,否則S=1;然后找出為"1"的最高位,設(shè)為"1"的最高位為第L位,則保留P[L-1:0]作為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的尾數(shù)M的高位,然后在其后補(bǔ)"0"至23位,即得尾數(shù)M;而L的值即為指數(shù)e,則E=e+127。假設(shè)P[9:0]=0001011011,則為"1"的最高位為P[6],保留P[5:0]作為尾數(shù)M[22:0]的高位,然后在后面補(bǔ)"0",即得尾數(shù)M,在此M=01101100000000000000000,而指數(shù)e為6,則E[7:0]的大小為E=e+127,在此即為133,即為二進(jìn)制的10000101,此處為S=0,則P轉(zhuǎn)化后的值為Pout[31:0]=01000010101101100000000000000000,仿真結(jié)果如圖3所示。

顯然仿真結(jié)果是正確的。

按照IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式,把測量所得數(shù)據(jù)P和投影矩陣W的值預(yù)處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式以后,即可進(jìn)行運(yùn)算。

5.2 浮點(diǎn)加法器的實(shí)現(xiàn)

兩浮點(diǎn)數(shù)相加,設(shè)兩個IEEE標(biāo)準(zhǔn)754單精度浮點(diǎn)數(shù)分別為01000000011000000000000000000000和01000000010000000000000000000000,即為十進(jìn)制的3.5和3,調(diào)用浮點(diǎn)加法IP核,仿真波形圖如圖4所示。
由仿真波形圖可見相加結(jié)果為01000000110100000000000000000000,即為十進(jìn)制的6.5,顯然結(jié)果是正確的。

5.3 浮點(diǎn)乘法器的實(shí)現(xiàn)

兩浮點(diǎn)數(shù)相乘,設(shè)兩數(shù)均為01000000011000000000000000000000,即為十進(jìn)制的3.5,調(diào)用浮點(diǎn)數(shù)乘法IP核,進(jìn)行仿真。仿真結(jié)果如圖5所示。

由仿真波形圖可見兩數(shù)相乘結(jié)果為01000001010001000000000000000000,為十進(jìn)制數(shù)的12.25,即結(jié)果是正確的。

6 結(jié) 語

通過以上討論分析,本文提出的基于FPGA的處理小數(shù)的方法是可行的,不僅解決了在FPGA上實(shí)現(xiàn)發(fā)射光譜層析SIRT算法時的小數(shù)問題,同時也拓寬了FPGA的應(yīng)用范圍,使得FPGA不只能處理整數(shù)還可以處理小數(shù),突破了以往FPGA處理小數(shù)時只能用定點(diǎn)處理的限制,同時本文巧妙地利用了經(jīng)過嚴(yán)格測試和優(yōu)化的Altera開放的IP核并結(jié)合自編Verilog程序,這樣既減少了設(shè)計中的工作量,又可以在一定程度上節(jié)省硬件資源,提高系統(tǒng)運(yùn)行速度,向發(fā)射光譜實(shí)時層析重建邁了有意義的一步。
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