基于動(dòng)態(tài)跟蹤的消除系統(tǒng)溫漂和時(shí)漂的解決方案
1 系統(tǒng)組成概述
用于檢測(cè)潤(rùn)滑制劑運(yùn)動(dòng)粘度的水浴溫度測(cè)控儀,以MCS-51系列的AT89C51為核心,構(gòu)成1個(gè)單片機(jī)測(cè)控系統(tǒng),完成溫度檢測(cè)、溫度顯示、數(shù)據(jù)處理及輸出控制。溫控儀可巡回檢測(cè)三路溫度信號(hào),分別對(duì)應(yīng)3個(gè)檢測(cè)點(diǎn)。由鉑電阻溫度傳感器產(chǎn)生的溫度信號(hào)經(jīng)過調(diào)理電路轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào),經(jīng)過放大、A/D轉(zhuǎn)換,傳送至主機(jī)AT89C51進(jìn)行處理,然后由帶有高速串行接口的8位LED控制驅(qū)動(dòng)器PS7219實(shí)現(xiàn)溫度顯示。同時(shí),主機(jī)將檢測(cè)到的溫度信號(hào)與設(shè)定溫度值進(jìn)行比較,輸出控制信號(hào),控制繼電器的閉合。本系統(tǒng)中89C51的P0口作為與A/D轉(zhuǎn)換芯片的數(shù)據(jù)接口,采用查詢法讀取A/D轉(zhuǎn)換的結(jié)果,而P1口、P2口、P3口除用作特殊功能均可作為可編程的輸入輸出線,無(wú)地址總線。這主要是因?yàn)锳T89C51內(nèi)部帶有4 KB的程序存儲(chǔ)器,源程序均在芯片內(nèi)部,無(wú)需外部擴(kuò)展程序存儲(chǔ)器[1-2],系統(tǒng)設(shè)計(jì)框圖如圖1所示。
2 動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤解決系統(tǒng)時(shí)漂和溫漂的方法
在硬件上,鉑電阻測(cè)溫電路和調(diào)理電路的好壞是關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)精度和穩(wěn)定性的最關(guān)鍵性因素。本文采用恒流源、多路模擬開關(guān)和測(cè)量放大器AD620實(shí)現(xiàn)的鉑電阻溫度傳感器的調(diào)理電路,在設(shè)計(jì)過程中嘗試了兩種方案,通過理論分析和實(shí)際測(cè)量結(jié)果的比較,最終選用了如下方案,其電路圖如圖2所示。
此方案采用1片8通道多路模擬開關(guān)CD4051、2片雙路4通道多路模擬開關(guān)CD4052和2片測(cè)量放大器AD620,R=100 Ω(調(diào)零電阻)。R2~R7=10 Ω,用以消除地端干擾。多路模擬開關(guān)CD4051的通道選擇是通過A(P1.4)、B(P1.5)和C(P1.7)控制的。當(dāng)P1.4=0,P1.5=0,P1.7=0時(shí),通道1選通,恒流源的電流I通過鉑電阻RA,同時(shí)鉑電阻兩端的電壓通過第2片CD4052以差模的形式取出并送入AD620,經(jīng)兩級(jí)放大后送到A/D,避免了共模干擾,提高了系統(tǒng)的抗干擾能力[3]。
對(duì)于溫度測(cè)控系統(tǒng),傳感器的調(diào)理電路對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的精度起著至關(guān)重要的作用。在該系統(tǒng)中,恒流源、基準(zhǔn)電壓源和放大器分別存在著不同的時(shí)漂和溫漂,即便是在選用的器件比較好的情況下,這種漂移很小,但由于系統(tǒng)要長(zhǎng)時(shí)間工作,這種日積月累的影響也不能夠忽略不計(jì)。因此在上述基礎(chǔ)上增加了2個(gè)精密標(biāo)準(zhǔn)電阻,通過它們來(lái)動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤恒流源的電流、基準(zhǔn)電壓源的電壓和放大器的放大倍數(shù)變化,去除了漂移對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響[4],鉑電阻調(diào)理電路如圖2所示。[!--empirenews.page--]
在硬件基礎(chǔ)上,此方案的實(shí)時(shí)跟蹤是通過軟件方法來(lái)實(shí)現(xiàn)的,具體方法是首先控制多路模擬開關(guān),依次選通標(biāo)準(zhǔn)電阻R1,R0,則A/D所對(duì)應(yīng)的電壓輸出分別為Vout1,Vout0。設(shè)恒流源的電流為I,2個(gè)放大器的放大倍數(shù)分別為K1和K2,放大器反相輸入端基準(zhǔn)電壓源的電壓為V-。則有:
3 系統(tǒng)工作穩(wěn)定性測(cè)試
為了驗(yàn)證此方案的可行性,在系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)行不關(guān)機(jī)的情況下,實(shí)際測(cè)得了1組數(shù)據(jù),為了防止鉑電阻阻值隨環(huán)境溫度變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,僅驗(yàn)證調(diào)理電路的好壞,所以用1個(gè)150 Ω的可調(diào)電阻代替鉑電阻,在100~150 Ω范圍內(nèi)模擬鉑電阻,由對(duì)應(yīng)的1組阻值實(shí)測(cè)出1組相對(duì)應(yīng)的溫度值。在此僅以其中的1路溫度信號(hào)來(lái)說(shuō)明,如表1所示。
由表1中的數(shù)據(jù)用最小二乘法求出鉑電阻阻值R與實(shí)測(cè)溫度值t之間的關(guān)系式。將測(cè)量數(shù)據(jù)列表進(jìn)行處理,如表2所示。
設(shè)R=R0+A×t,應(yīng)用最小二乘法原理求取回歸參數(shù)R0,A,可得:
由以上分析可知,采用此方案提高了系統(tǒng)工作的穩(wěn)定性和抗干擾能力;同時(shí)還提高了元器件之間的互換性,即便是同種型號(hào)的元器件的參數(shù)值也并不是完全一致的。而采用這種動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤元器件參數(shù)值的方法,則有效地解除了元器件之間參數(shù)值不一致的問題[6]。
信號(hào)檢測(cè)傳感器調(diào)理電路是關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)精度的重要環(huán)節(jié),因此,本方案雖然是以犧牲硬件資源的代價(jià)來(lái)改善系統(tǒng)的抗干擾性能和精度,但考慮到現(xiàn)場(chǎng)干擾極大、環(huán)境惡劣的情況下,與其他方案比較起來(lái),顯然是可取的。