一種基于FPGA的真隨機數(shù)發(fā)生器設計與實現(xiàn)

真隨機數(shù)發(fā)生器(TRNG)在統(tǒng)計學、信息安全等領域有著廣泛的應用。在這些領域中，不僅要求數(shù)據(jù)序列分布均勻、彼此獨立，而且要求其具有不可預測性，能夠抵御針對隨機性的攻擊。B．Sunar，W.J．Martin和D．R．Stinson提出，真隨機數(shù)發(fā)生器的性能受3個因素的影響：熵源(Entropy Source)，采集方式(Harvesting Mechanism)和后續(xù)處理(Post-Processing)。在電路系統(tǒng)中最常見的三種真隨機數(shù)產(chǎn)生方法為：1)直接放大法：放大電路中的電阻熱噪聲等物理噪聲，通過比較器進行比較后獲得隨機數(shù)序列；2)振蕩采樣法：用帶有抖動的慢振蕩器通過D觸發(fā)器采樣一個周期固定的快振蕩器，輸出隨機序列；3)離散時間混沌法：利用混沌電路不可預測以及對初始條件敏感的依賴性的特點產(chǎn)生隨機序列?；谀M電路的結構，熵源的統(tǒng)計分布更加理想，且熵源噪聲不隨采樣周期的變化而改變；基于數(shù)字電路的結構，集成度高，便于在FPGA等通用可編程平臺上實現(xiàn)，但熵源的統(tǒng)計特性與模擬電路相比不夠理想。

本文嘗試了一種用純數(shù)字電路實現(xiàn)的TRNG結構，且不使用諸如PLL等特殊資源，便于設計由FPGA驗證移植到芯片設計。其核心思想是使用反相器和延時單元構成兩個相互獨立的振蕩器，由于內(nèi)部噪聲的差異引起的相位偏移作為熵源，經(jīng)過一段時間振蕩后，隨機的狀態(tài)由數(shù)字雙穩(wěn)態(tài)電路鎖存。多組振蕩器的輸出，經(jīng)過異或和同步處理后得到隨機序列。該TRNG在FPGA物理平臺上實現(xiàn)并進行了測試驗證。

1 TRNG的設計

1．1 相位漂移與抖動

由于受到電路中噪聲的影響，數(shù)字電路中時鐘信號的周期在每個不同的周期上可能縮短或者加長，這就是時鐘抖動。抖動可以用許多方法來衡量和表征，它是一個均值為零的隨機變量。振蕩器起振時刻的差異和電路元件的工藝偏差，使得振蕩器間存在相位漂移。因此抖動信號和相位漂移適合在數(shù)字電路中作為TRNG的隨機源。

1．2 亞穩(wěn)態(tài)

鎖存器是有邏輯‘1’和‘0’兩個穩(wěn)定狀態(tài)的雙穩(wěn)態(tài)器件，但是在特殊情況下其可能進入亞穩(wěn)態(tài)，此時它的輸出是介于‘1’和‘0’之間的中間電平。如圖1所示鎖存器用兩個反相器和兩個開關表征。當鎖存器導通時，采樣開關閉合，保持開關打開(圖a)；當鎖存器關閉時，采樣開關打開，保持開關閉合(圖b)。圖c展示了兩個反相器的直流傳輸特性。當鎖存器關閉時A=B，穩(wěn)態(tài)是A=B=0和A=B=VDD，亞穩(wěn)態(tài)為A=B= Vm，其中Vm不是一個合理的邏輯值。因為電平在該點是相互穩(wěn)定的并且可以無限期停留，所以稱該點為亞穩(wěn)態(tài)。但是，任何噪聲或者其他干擾都會使得A和B最終穩(wěn)定在兩個穩(wěn)態(tài)中的一個狀態(tài)。圖d非常形象地表征了亞穩(wěn)態(tài)，它就好像處于山頂?shù)男∏蛉魏胃蓴_都會使小球滾落到山兩端的穩(wěn)定狀態(tài)。

1．3 振蕩器的設計

如圖2所示，二選一復用器既作為延遲單元又作為選通單元使用。當選通信號為‘1’時，形成兩個相互獨立、自由振蕩的環(huán)形振蕩器。當選通信號為‘0’時，兩組反相器交叉相連形成雙穩(wěn)態(tài)器件。自由振蕩時，兩個振蕩器之間存在著抖動和相位偏移。在振蕩的停止時刻，即振蕩環(huán)路斷開、兩組反相器交叉連接時，反相器的瞬時輸出電壓以及內(nèi)部噪聲的絕對和相對值決定了電路最終穩(wěn)定在哪個邏輯值上。有時即使反相器跨接在一起，電路也會振蕩很長一段時間才能穩(wěn)定下來，形成亞穩(wěn)態(tài)。綜上所述，隨機序列的來源用到了抖動和亞穩(wěn)態(tài)兩種機制。

波形如圖3所示，為了方便數(shù)據(jù)采集選通信號是由時鐘經(jīng)過分頻得到的。在自由振蕩階段，輸出信號快速變化不屬于任何穩(wěn)定狀態(tài)，在圖中用斜線表示。在解析階段，電路是雙穩(wěn)態(tài)器件，此時應該保持解析時間足夠長，從而使輸出電平在大多數(shù)情況下穩(wěn)定在邏輯‘1’或‘0’。

1．4 隨機源模塊的電路設計

各個振蕩器的輸出經(jīng)過異或運算可以增加隨機性，而亞穩(wěn)態(tài)的傳播會造成后續(xù)電路的錯誤動作，因此使用同步器將異或后的隨機序列與后續(xù)電路隔離開來，同時也方便采集穩(wěn)定的輸出序列做性能分析。此處采用了三級寄存器的同步結構，由MTBF(Mean Time Between Failure)的定義可知，平均需要經(jīng)過數(shù)百年時間才會發(fā)生一次亞穩(wěn)態(tài)通過同步器向下傳播的事件，因此是滿足設計要求的。該模塊電路圖如圖4所示。

1．5 后續(xù)處理模塊的設計

理想情況下，D觸發(fā)器所采集的信號具有隨機的統(tǒng)計特性，可是FPGA內(nèi)部電路不可避免地會受到溫度漂移、電壓抖動等不良因素影響，從而導致采樣得到的隨機信號中存在偏置，影響結果的統(tǒng)計特性。所以在采樣得到隨機序列后要對數(shù)據(jù)進行消偏處理，使0和1出現(xiàn)的概率相當。

本設計采用16位最大長度二進制偽隨機序列(Pseudo Random Binary Sequence)的輸出與采樣得到的隨機序列進行異或運算作為后續(xù)處理，PRBS產(chǎn)生電路消耗資源少并且使用線性反饋移位寄存器實現(xiàn)，非常適合于在FPGA上實現(xiàn)。它的生成多項式是：

多項式表示如圖5所示。

2 TRNG的FPGA實現(xiàn)與測試

整個TRNG的實驗環(huán)境由外部時鐘源、FPGA開發(fā)板以及邏輯分析儀組成。TRNG采用Xilinx公司的Virtex-5系列中的XC5VLX110作為物理實現(xiàn)平臺，外部時鐘頻率為64 MHz。由FPGA產(chǎn)生的隨機數(shù)據(jù)，經(jīng)邏輯分析儀采集后，使用DIEHARD battery of tests of randomness隨機數(shù)測試程序進行測試，檢驗隨機序列的性能。

DIEHARD測試是由16項測試組成的用來度量隨機數(shù)發(fā)生器性能的一組統(tǒng)計學測試，它由George Marsaglia開發(fā)并于1995年首次發(fā)布。DIE HARD的測試結果叫做P-value，它由方程P-value=Fi(X)計算得到，其中Fi試圖建立樣本X在0和1間服從均勻分布的分布函數(shù)。因為Fi是漸進逼近的，它在尾部的近似效果變差，所以數(shù)值接近0或1的P-value在真隨機序列中極少出現(xiàn)。當被測序列隨機性能很差時，會有很多P-value的值是精確到小數(shù)點后數(shù)位的0或者1，例如1．000 000。需要強調(diào)的是，P-value等于1．000 000或0．000000是序列為真隨機序列的充分不必要條件。

2．1 FPGA位置約束

為保證每個振蕩器中的兩個獨立振蕩環(huán)的理論振蕩周期相同，以便更容易在鎖定期間產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)，加大噪聲對輸出電平的影響，同時盡量讓各個振蕩器的輸出在進行異或運算前延遲不出現(xiàn)太大偏差。所以對TRNG中的振蕩環(huán)進行位置約束：將振蕩環(huán)中的反相器約束在左右相鄰的邏輯單元(Slice)中，讓各個振蕩環(huán)分別約束在上下相鄰的邏輯單元中。

2．2 振蕩器數(shù)目對統(tǒng)計特性的影響

在32 MHz的采樣頻率下，分別以15組、19組、27組和32組振蕩器作為TRNG的隨機源，隨機序列經(jīng)過同步器后不與PRBS運算直接輸出。將采集到的隨機序列送入測試程序進行測試以后，其結果如表1所示。

可以看出，振蕩器的數(shù)目直接影響隨機源模塊產(chǎn)生序列的統(tǒng)計性能，振蕩器數(shù)目越多，TRNG輸出序列的隨機性越好。但是如果振蕩器的數(shù)目太多，會消耗過多的硬件資源，功耗也過大。因此，不宜通過單純地增加振蕩器數(shù)目的方法提高隨機序列的性能。

定性分析如下：將序列的每位看作是一個隨機的二進制變量X，定義b是序列的偏置。即

根據(jù)Piling-up引理，輸出序列的偏置是：

其中n是輸入序列的個數(shù)，bi是每個序列的偏置。容易看出b≤bi(1≤i≤n)，等式當且僅當在bi=0()或者bi=1／2()時成立。簡而言之，異或運算顯著地減小了獨立輸入序列的偏置。假設n=16且所有bi=1／3，那么b=0．000 761可以忽略不計。

2．3 后續(xù)處理模塊對統(tǒng)計性能的改善

由上一節(jié)的分析可知，增加振蕩器數(shù)量是改善序列統(tǒng)計特性的有效方法。但前提條件是各個振蕩器相互獨立。當振蕩器數(shù)量過多時位置約束很可能與相互獨立的要求相互矛盾。因為高速的振蕩信號往往發(fā)生相互串擾的情況，并且消耗更多資源和功耗，所以有必要在保證TRNG包含一定數(shù)量的振蕩器的前提下，引入后續(xù)處理模塊。從而達到消耗資源較少，序列性能較好的目的。

本項測試以19組振蕩器作為TRNG的隨機源，輸出序列與PRBS模塊輸出進行異或運算，然后分別使用32，16，8，2 MHz的采樣時鐘采集數(shù)據(jù)。將數(shù)據(jù)送入測試程序進行測試以后，結果如表2所示。

可以看出，TRNG生成的隨機序列全部達到了預定的性能指標。同時不難發(fā)現(xiàn)，采樣時鐘頻率對TRNG的輸出統(tǒng)計特性是有影響的，當采樣頻率逐漸降低時，TRNG的隨機性能逐步提高。出現(xiàn)這種現(xiàn)象是由于采樣頻率越高，就與振蕩頻率越接近，二者的相位偏移干擾了隨機信號的獲取影響了統(tǒng)計特性。

3 結束語

本文嘗試了一種純數(shù)字形式的真隨機數(shù)發(fā)生器結構，規(guī)模較小、易于移植。電路包含兩個振蕩環(huán)，分為自由振蕩和鎖存至雙穩(wěn)態(tài)兩個工作狀態(tài)。利用振蕩環(huán)之間的相位偏移和抖動以及雙穩(wěn)態(tài)器件的亞穩(wěn)態(tài)作為隨機源。本文探討了振蕩器數(shù)量對序列統(tǒng)計特性的影響，并在加入后續(xù)處理模塊的情況下試驗了多種采樣頻率，經(jīng)測試隨機序列完全符合預定指標。