英特爾稱芯片漏電技術(shù)獲突破 07年商用

　　據(jù)國外媒體報道，英特爾今天宣稱在解決芯片漏電的問題上取得重大進展。隨著芯片生產(chǎn)工藝的提升，漏電已經(jīng)成為制約芯片技術(shù)進一步發(fā)展的主要瓶頸，這一問題在手機芯片和其它便攜設(shè)備芯片領(lǐng)域尤為突出。

　　目前，漏電已經(jīng)成為縮短電池待機時間和芯片過熱的根源。業(yè)內(nèi)人士認(rèn)為，如果這一問題不能得到有效解決，芯片生產(chǎn)工藝的提升速度將會減緩，從而推動整個電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展的動力也就不復(fù)存在。

　　電池待機時間對于筆記本電腦和手機等產(chǎn)品至關(guān)重要，因此它們對于芯片功耗有著特殊的要求。英特爾表示，該公司正在開發(fā)一種單獨的生產(chǎn)工藝，專門用于筆記本電腦或手機芯片的生產(chǎn)，這種生產(chǎn)工藝可以將漏電的比例降至原來的千分之一。據(jù)英特爾高管稱，該公司已經(jīng)開發(fā)出采用新生產(chǎn)工藝的原型芯片，但這一生產(chǎn)工藝要到2007年初才能投入商用。英特爾工藝架構(gòu)和集成部門主管馬克-波爾(Mark Bohr)表示：“在解決漏電問題的過程中，我們已經(jīng)取得了突破性進展。”

　　除英特爾之外，其它公司也在試圖解決漏電的問題。德州儀器近日公布了一項名為“SmartFlex”的新技術(shù)，可以從一定程度上減少漏電。分析人士預(yù)計，德州儀器、飛思卡爾以及其它芯片廠商將會仿效英特爾的一些技術(shù)。(摩爾）