快速讀懂Android裝置測(cè)試要領(lǐng) --淺談常見(jiàn)產(chǎn)品問(wèn)題風(fēng)險(xiǎn)與驗(yàn)證架構(gòu)--
時(shí)間：2018-06-25 14:50:01
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Android
驗(yàn)證架構(gòu)
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[導(dǎo)讀]在先前我們已經(jīng)專文解構(gòu)Android的基本技術(shù)架構(gòu)、并探討Android裝置軟硬件整合的五大技術(shù)環(huán)節(jié)，這次我們則將從測(cè)試專家的角度，探討Android必須被重視與驗(yàn)證的重點(diǎn)。
為何首先要先討論Android的問(wèn)題風(fēng)險(xiǎn)呢？一個(gè)驚人的數(shù)據(jù)顯示，截至目前為止由硬件廠商（IHVs）、開(kāi)發(fā)商及使用戶所回報(bào)的Android OS bug數(shù)量，達(dá)到了十二萬(wàn)個(gè)，這其中包含了各種大大小小的問(wèn)題瑕疵，有些僅是影響作業(yè)流暢度、有些則是可能造成數(shù)據(jù)外泄、或是系統(tǒng)當(dāng)機(jī)的critical bug。由此觀之，Android作為一個(gè)開(kāi)放式系統(tǒng)，必須與硬件商、應(yīng)用程序端相互整合，因此有許多設(shè)計(jì)面向都必須顧慮周全，目前已為人所知或備受探討的Android常見(jiàn)問(wèn)題包括有：
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