絕緣電阻測(cè)試屏蔽環(huán)裝設(shè)不同位置比較

絕緣性能良好是電力設(shè)備正常運(yùn)行的保障，其優(yōu)劣將直接影響電網(wǎng)的運(yùn)行。通過測(cè)試電氣設(shè)備的絕緣電阻能簡(jiǎn)便有效地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣是否存在整體受潮、整體劣化和貫通性缺陷等。

在實(shí)際測(cè)試中，常用兆歐表測(cè)試電力設(shè)備的絕緣強(qiáng)度。被試設(shè)備周圍電磁場(chǎng)干擾、測(cè)量時(shí)間、環(huán)境溫度、測(cè)量電壓、環(huán)境濕度、接線方法、絕緣油性能等都將影響絕緣電阻的測(cè)試結(jié)果。在試驗(yàn)中忽視某些小問題，可能會(huì)做出錯(cuò)誤的判斷，給檢修工作帶來不必要的麻煩。為保證測(cè)量值的準(zhǔn)確性，需針對(duì)性的采取措施，以保證試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確度。本文主要分析了因被試設(shè)備表面潮濕、污穢等狀況下需裝設(shè)屏蔽環(huán)的情況。

一、屏蔽線測(cè)試原理分析

試品的絕緣電阻主要有絕緣電阻體積絕緣電阻和表面絕緣電阻兩部分。體積絕緣電阻是電介質(zhì)自身對(duì)電導(dǎo)電流呈現(xiàn)的阻力，表面絕緣電阻主要是電介質(zhì)表面的電導(dǎo)電流遇到的阻力。其中固體絕緣材料由于表面經(jīng)常吸附如水分和污物的電雜質(zhì)，其表面電導(dǎo)能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于體積電導(dǎo)能力，測(cè)試時(shí)所測(cè)量的是體積絕緣電阻。

為消除被試設(shè)備表面或其他不需要測(cè)量的部分泄漏電流的影響，在其表面加設(shè)屏蔽環(huán)測(cè)絕緣電阻。下面對(duì)屏蔽環(huán)的裝設(shè)位置進(jìn)行比較分析。

當(dāng)R2為有限值時(shí)，

U=Ix·Rx+Ix·Ra·R2/(Ra+R2)

Ua=U2 Ix=Ia+I2

聯(lián)立解得 Ia= R2·U/ (Rx ·Ra + R2·Ra+ R2·Rx)

兆歐表指針偏角 α=f(Iv/Ia)

= f(Rx ·Ra / R2·Rv)+ f(Rx +Ra / Rv) (1)

當(dāng)R2為無限大時(shí)，

I2=0，β= f(Iv/Ia) =f(Rx +Ra / Rv)

α=f(Rx ·Ra / R2·Rv) +β (2)

由(1)、(2)得

α-β=f(Rx ·Ra / R2·Rv)=K f(1 / R2) (3)

設(shè)Ra / R2=M,則α-β= M·f(Rx / Rv)

≈M·β (4)

由圖1 可見，R2與Ra并聯(lián)，當(dāng)R2→∞時(shí)，Ia = Ix，即此時(shí)測(cè)出的試品絕緣電阻為真實(shí)值，換言之，表面狀況的影響可忽略。

對(duì)于某一兆歐表，Ra、Rv是儀器本身固有的，不會(huì)隨測(cè)量試品的不同而改變，為不變的常數(shù)。對(duì)于測(cè)試的試品本身，Rx是固定不變的。由式(3)，(α-β)取決于R2，R2越大，(α-β)越小，即測(cè)量誤差越小，反之亦然。由式(4)，對(duì)某一型號(hào)的兆歐表，Ra=3.6MΩ，當(dāng)R2為100 MΩ時(shí)，相對(duì)誤差為3.6%。國(guó)產(chǎn) ZC 系列兆歐表的限流電阻為 5～10MΩ，屏蔽環(huán)裝設(shè)位置不當(dāng)，會(huì)使測(cè)得的絕緣電阻值偏高。故在測(cè)試過程中，屏蔽環(huán)裝設(shè)在試品中下部，即靠近接地端較合適，但對(duì)屏蔽環(huán)與接地端間試品的絕緣強(qiáng)度有一定的要求。

在實(shí)際工作中，常用的屏蔽方法是采用直流泄漏電流試驗(yàn)的接法，屏蔽線設(shè)置在高壓端遠(yuǎn)離接地部分，即靠近L端裝設(shè)，使屏蔽環(huán)與接地端之間的表面電阻增大，減小了兆歐表的負(fù)載，使兆歐表的輸出電壓不至于因?yàn)榧友b屏蔽環(huán)而造成明顯的下降。

二、試驗(yàn)驗(yàn)證

針對(duì)屏蔽環(huán)裝設(shè)在試品的不同位置，通過測(cè)試避雷器的絕緣電阻進(jìn)行比較，結(jié)果如下：

表1 R2取值不同時(shí)，避雷器絕緣電阻測(cè)量值(Rx= 3000 MΩ)

根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果，當(dāng)R2≥100MΩ時(shí)，屏蔽線的放置位置致使相對(duì)誤差變化較小，對(duì)某一型號(hào)的兆歐表，按式(4)計(jì)算，取Ra=3.6MΩ，當(dāng)R2為50 MΩ時(shí)，相對(duì)誤差為7.2%，當(dāng)R2為10MΩ時(shí)，相對(duì)誤差為36%。對(duì)測(cè)試絕緣電阻時(shí)，選用不同的兆歐表，首先應(yīng)確定兆歐表的Ra的參數(shù)，根據(jù)試品外部污穢、潮濕等狀況再確定屏蔽線的裝設(shè)位置，以防誤測(cè)。

三、結(jié)束語

電氣設(shè)備的絕緣電阻可由兆歐表簡(jiǎn)便測(cè)出，測(cè)量時(shí)應(yīng)根據(jù)試品的具體狀況等各種因素的影響選取兆歐表進(jìn)行測(cè)試，防止因測(cè)量誤差造成判斷錯(cuò)誤。

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