NI演示5G測(cè)試應(yīng)用的寬帶5G波形發(fā)生和測(cè)量技術(shù)

 NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日宣布將在夏威夷檀香山舉行的2017國(guó)際微波會(huì)議(IMS)上展示一項(xiàng)準(zhǔn)5G波形發(fā)生和測(cè)量技術(shù)。 該展示將包含代表Verizon 5G技術(shù)論壇(5GTF)和3GPP提出的新無(wú)線電(New Radio, NR)物理層波形的信號(hào)生成和分析。

這一技術(shù)展示將使用1 GHz帶寬的PXIe-5840第二代矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)與用于波形調(diào)制和解調(diào)的準(zhǔn)5G軟件。波形調(diào)制的關(guān)鍵特征包括支持離散傅里葉變換擴(kuò)展正交頻分復(fù)用(DFT-S-OFDM)和正交頻分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF規(guī)范的靈活子載波間隔和分量載波配置，總帶寬為1 GHz。該演示支持高達(dá)256-QAM的調(diào)制類型，測(cè)量結(jié)果包含功率、相鄰信道功率和誤差矢量幅度。 該演示的典型應(yīng)用包括RF功率放大器、前端模塊和收發(fā)器等RFIC的測(cè)試。

NI無(wú)線設(shè)計(jì)和測(cè)試副總裁Charles Schroeder：“NI以軟件為中心的測(cè)試測(cè)量方法可允許PXI測(cè)試系統(tǒng)隨著軟件的更新速度進(jìn)行更新。 借助這種方法，工程師可以使用當(dāng)前用于測(cè)試LTE-A和LTE-A Pro產(chǎn)品的VST測(cè)試系統(tǒng)來(lái)測(cè)試未來(lái)的5G產(chǎn)品。”

NI的新5G測(cè)試技術(shù)與其廣泛的RF和無(wú)線測(cè)試產(chǎn)品系列相得益彰，新的軟件進(jìn)一步完善了現(xiàn)有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、藍(lán)牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS測(cè)試解決方案。 NI的RF和無(wú)線智能測(cè)試系統(tǒng)基于NI先進(jìn)的VST技術(shù)，可幫助工程師降低測(cè)試成本。 這些測(cè)試系統(tǒng)將受益于從直流到毫米波等不同工作頻率范圍的600多個(gè)PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)移動(dòng)，同時(shí)具有亞納秒級(jí)同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的充滿活力的生態(tài)系統(tǒng)，可幫助用戶大幅降低測(cè)試成本，縮短上市時(shí)間，開(kāi)發(fā)面向未來(lái)的測(cè)試設(shè)備來(lái)應(yīng)對(duì)未來(lái)的種種挑戰(zhàn)。