河洛IC測試機(jī)提升邏輯與混合訊號IC測試效率

時(shí)間：2011-10-25 07:33:00

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[導(dǎo)讀]河洛半導(dǎo)體(Hi-Lo Systems)發(fā)表針對邏輯或混合訊號IC測試需求而設(shè)計(jì)的 HV-256 IC測試機(jī)，可透過 USB 2.0 和 PC 連結(jié)，在優(yōu)異的測試軟體環(huán)境ITE (Integrated Test Environment)下，提供工程開發(fā)、量產(chǎn)測試失敗分析及良

河洛半導(dǎo)體(Hi-Lo Systems)發(fā)表針對邏輯或混合訊號IC測試需求而設(shè)計(jì)的 HV-256 IC測試機(jī)，可透過 USB 2.0 和 PC 連結(jié)，在優(yōu)異的測試軟體環(huán)境ITE (Integrated Test Environment)下，提供工程開發(fā)、量產(chǎn)測試失敗分析及良率改善等功能。
新款 HV-256 IC 測試機(jī)提供100MHz 時(shí)脈速率、50MHz資料傳輸率、 256 (8 x 32)個(gè)測試通道、1M+35M (FLASH)測試向量記憶體，可支援 TTL 、 GPIB 、 RS232 等通訊介面，可與坊間元件分類機(jī)(如HI-LO HL-930等)或晶圓針測機(jī)(如TSK Prober)連結(jié)，可對高達(dá)16個(gè)待測元件同時(shí)進(jìn)行測試量產(chǎn)。

HV-256 IC測試機(jī)可進(jìn)行 DC 、 AC 及功能性測試。256個(gè)測試通道可提供電壓表、電壓/電流檢測、恒壓、恒流源流出/流入、上拉/下拉電阻、主動(dòng)負(fù)載、時(shí)間參數(shù)測量、并內(nèi)建任意波形產(chǎn)生器及波形量化器等強(qiáng)大功能，媲美傳統(tǒng) ATE ，提供高規(guī)格性價(jià)比。機(jī)臺(tái)體積精簡，能因應(yīng)待測IC特定需求，并具客制化彈性。

TMU可測量頻率/周期、傳輸延遲、設(shè)立/保持時(shí)間、上升/下降時(shí)間和訊號斜率等交流參數(shù)；AWG 可產(chǎn)生正弦波、方波、斜波或任意波；Digitizer可擷取待測訊號，藉由量化進(jìn)行數(shù)值分析，并計(jì)算出各種參數(shù)，測試完成后還可進(jìn)行燒錄動(dòng)作。

在 ITE 測試軟體環(huán)境下作業(yè)，該IC測試機(jī)可支援Windows XP / Windows Vista / Windows 7 (32-bit)作業(yè)系統(tǒng)、ANSI C語法、編輯Pattern、設(shè)定AWG及編譯測試程式等等工程開發(fā)模式，以及進(jìn)行量產(chǎn)的作業(yè)介面、自我測試及校正等模式。