Multitest Gemini測(cè)試座被知名半導(dǎo)體IDM選為標(biāo)準(zhǔn)解決方案

Multitest公司宣布，其Gemini?系列測(cè)試插座已被一家知名半導(dǎo)體IDM選為QFN封裝器件的專用測(cè)試插座。經(jīng)過(guò)數(shù)月評(píng)估，Gemini?在多類別產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出。這次成功再次證明使用Gemini?技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。這種測(cè)試座性能卓越，使用壽命長(zhǎng)，初置成本低，為客戶帶來(lái)超過(guò)預(yù)期的低測(cè)試成本。

Gemini?測(cè)試座經(jīng)過(guò)經(jīng)心設(shè)計(jì)，能克服QFN接觸的挑戰(zhàn)。單邊DUT（被測(cè)裝置）針頭式樣和雙簧探針結(jié)構(gòu)提供了所需的DUT管腳接觸壓，這樣就克服了無(wú)鉛裝置上面常見的氧化物積層問題。探針基底異常堅(jiān)硬，既最大程度上減少了磨損，又延長(zhǎng)了測(cè)試座使用壽命。此外，平行電流通路使載流能力最大化、減少了接觸阻抗，并且提供極低電感環(huán)境。

Multitest Gemini?測(cè)試座設(shè)計(jì)為探針增添槽孔，優(yōu)化探針布局。槽孔使探針針頭精確對(duì)齊被測(cè)QFN器件低至0.4mm間距的管腳。探針在優(yōu)化位置進(jìn)行排列，確保最低電感和最佳阻抗匹配環(huán)境。Gemini?測(cè)試座是業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的高性能解決方案，適于接收器、發(fā)射器、4G裝置、Wimax、USB 3.0及其他RF裝置的大容量半導(dǎo)體測(cè)試。