惠瑞捷將提供可在LSI測試設(shè)備上運(yùn)行的故障分析及成品率估算軟件

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惠瑞捷（Verigy）開發(fā)了2款可在LSI測試設(shè)備上實(shí)時(shí)分析故障的軟件。將這2款軟件與該公司的SoC測試設(shè)備“V93000”結(jié)合使用，制成了名為“Yield Learning Solution”的產(chǎn)品。

目前市場上收集LSI測試設(shè)備的處理結(jié)果并分析故障的軟件有數(shù)種。惠瑞捷表示，與現(xiàn)有產(chǎn)品相比，此軟件的特點(diǎn)是，在LSI測試設(shè)備上（確切地說，在LSI測試設(shè)備的計(jì)算機(jī)部分）運(yùn)行，可實(shí)時(shí)故障分析。

Yield Learning Solution包含兩款分析軟件。一款是“Triage Fault Locator”，通過比較LSI測試設(shè)備的輸出功率與理論模擬結(jié)果，提取發(fā)生故障的觸發(fā)器間的路徑，可確定芯片上發(fā)生故障的位置。

另一款是“YieldVision”。該軟件可分析晶圓上發(fā)生故障的芯片位置，還可估算成品率。這兩種分析軟件由惠瑞捷收購的美國Inovys開發(fā)。收購后，為了能使其在V93000上運(yùn)行，該公司對(duì)這兩種軟件進(jìn)行了改進(jìn)，此次對(duì)其進(jìn)行了詳細(xì)介紹。