愛德萬測試發(fā)表DDR4與LPDDR4測試方案

時間：2014-02-25 10:14:34

關鍵字：測試方案 LPDDR4 SDRAM 測試解決方案

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[導讀]愛德萬測試(Advantest)宣布發(fā)表專為新一代記憶積體電路(IC)所設計的最新測試解決方案，以滿足行動裝置與伺服器市場對新一代記憶IC的強勁需求。此套最新測試解決方案T5503HS延續(xù)廣為業(yè)界采用的T5503架構并加以改進，提

愛德萬測試(Advantest)宣布發(fā)表專為新一代記憶積體電路(IC)所設計的最新測試解決方案，以滿足行動裝置與伺服器市場對新一代記憶IC的強勁需求。此套最新測試解決方案T5503HS延續(xù)廣為業(yè)界采用的T5503架構并加以改進，提供高速平行同測、完整相容性，并加入可升級設計，創(chuàng)造業(yè)界最佳性能，實現(xiàn)高產(chǎn)能低測試成本效益。

愛德萬測試記憶體測試事業(yè)執(zhí)行副總裁山田弘益表示，這套新測試系統(tǒng)是一套最能滿足新一代DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體測試需求的解決方案，因為T5503HS可提供最高測試效率，讓客戶獲得最大資本投資回報。

隨著可上網(wǎng)功能的行動裝置與相關支援伺服器在資料處理量不斷激增之下，高速高容量記憶晶片制造商亟需具成本競爭力的測試解決方案加速推出新興DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體等新產(chǎn)品上市。愛德萬測試全新T5503HS系統(tǒng)可提供符合記憶體制造商需求之功能，同時降低測試成本。

T5503HS測試速度最高可達4.5Gbit/s，此速度足以因應現(xiàn)今最高階雙倍資料傳輸速度記憶體最高4.266Gbit/s運作頻率。T5503HS藉由Cyclic Redundancy Check與CA parity codes，比對輸入/輸出(I/O)資料傳輸率與待測裝置位址，確保達到最高測試速度，且簡化新測試程式的開發(fā)流程，減少工作負擔，縮短新半導體設計上市時程。