IIC-China 2013：納瑞科技做所有IC設(shè)計(jì)公司的堅(jiān)強(qiáng)后盾

一種產(chǎn)業(yè)的興起，必定會(huì)帶動(dòng)起周邊的一系列產(chǎn)業(yè)。當(dāng)前中國共有大大小小400多家IC設(shè)計(jì)公司，這就帶動(dòng)了IC設(shè)計(jì)失效分析這樣一個(gè)行業(yè)。納瑞科技 (Ion Beam)成立于2006年，是一家專業(yè)的由在聚焦離子束（掃描離子顯微鏡）應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域有多年經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)骨干創(chuàng)立而成。

目前國內(nèi)很多知名IC設(shè)計(jì)制造公司都是納瑞的客戶，包括珠海矩力、BYD半導(dǎo)體、華為海思、華大科技、大唐、中芯微、硅谷數(shù)模、ADI、意法半導(dǎo)體等。2012年半導(dǎo)體業(yè)大環(huán)境不好，但并沒有對(duì)納瑞造成影響，對(duì)此納瑞科技（北京）有限公司銷售部經(jīng)理孟建磊女士表示，因?yàn)樵贗C設(shè)計(jì)整個(gè)環(huán)節(jié)中，失效分析和可靠性測(cè)試必不可少，只要設(shè)計(jì)公司不削減研發(fā)經(jīng)費(fèi)，第三方實(shí)驗(yàn)室都是可以接到大量實(shí)驗(yàn)需求的。對(duì)于2013年的前景，納瑞仍然十分看好。

納瑞科技在本次IIC China上著重展示了他們最新的利用FIB技術(shù)進(jìn)行的失效分析，包括FIB透射電鏡樣品制備和FIB電路修改。FIB透射電鏡樣品制備的特點(diǎn)是從納米或微米尺度的試樣中直接切取可供透射電鏡或高分辨電鏡研究的薄膜。試樣可以為IC芯片、納米材料、顆?；虮砻娓男院蟮陌差w粒，對(duì)于纖維狀試樣，既可以切取橫切面薄膜也可以切取縱切面薄膜。對(duì)含有界面的試樣或納米多層膜，該技術(shù)可以制 備研究界面結(jié)構(gòu)的透射電鏡試樣。技術(shù)的另一重要特點(diǎn)是對(duì)原始組織損傷很小。

FIB電路修改則是利用FIB對(duì)芯片電路進(jìn)行物理修改，可使芯片設(shè)計(jì)者對(duì)芯片問題處作針對(duì)性的測(cè)試，以便更快更準(zhǔn)確的驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案。 若芯片部份區(qū)域有問題，可通過FIB對(duì)此區(qū)域隔離或改正此區(qū)域功能，以便找到問題的癥結(jié)。FIB還能在最終產(chǎn)品量產(chǎn)之前提供部分樣片和工程片，利用這些樣片能加速終端產(chǎn)品的上市時(shí)間。利用FIB修改芯片可以減少不成功的設(shè)計(jì)方案修改次數(shù)，縮短研發(fā)時(shí)間和周期?！?BR>

納瑞科技目前在珠海，深圳，北京和上海都有分部，可以為全國各地的集成電路設(shè)計(jì)和制造工業(yè)，光電子工業(yè)，納米材料研究領(lǐng)域提供一流的分析技術(shù)服務(wù)。特別專注于離子束應(yīng)用技術(shù)在IC芯片修改以及失效分析領(lǐng)域的技術(shù)應(yīng)用及拓展。

納瑞的服務(wù)宗旨是將為IC芯片設(shè)計(jì)工程師，IC制造工程師縮短設(shè)計(jì)，制造時(shí)間，增加產(chǎn)品成品率。為研究人員提供，截面分析，二次電子像，以及透射電鏡樣品制備。同時(shí)還為聚焦離子束系統(tǒng)的應(yīng)用客戶提供維修，系統(tǒng)安裝，技術(shù)升級(jí)換代，系統(tǒng)耗材， 以及應(yīng)用開發(fā)和培訓(xùn)。