Multitest為新一代老化測(cè)試帶來可靠創(chuàng)新

Multitest公司，近日宣布宣布其老化產(chǎn)品團(tuán)隊(duì)最近成功為一家跨國(guó)IDM提供支持，顯著提高了其老化能力——達(dá)三分之一以上，同時(shí)大幅度降低了客戶老化板檢測(cè)所需的成本和工作。
Multitest通過對(duì)相關(guān)應(yīng)用及其對(duì)老化流程的影響進(jìn)行深入評(píng)估后開始本項(xiàng)目?；谠摲治?，Multitest確定與老化板所需的老化插座密度增量相匹配的相應(yīng)材料。此外，Multitest推出解決信號(hào)速度、電流消耗和分配的設(shè)計(jì)方法，以確保達(dá)到相關(guān)應(yīng)用的實(shí)際老化標(biāo)準(zhǔn)。其他供應(yīng)商之前提供的老化解決方案不能完全滿足電壓穩(wěn)定性和信號(hào)完整性要求。
作為最后一步，同時(shí)為了提供真正的“plug & yield” 解決方案，Multitest與客戶合作研究了一項(xiàng)老化板質(zhì)量控制策略。該新程序?qū)椭蛻艄S節(jié)省數(shù)百個(gè)檢測(cè)工時(shí)。
該新一代老化應(yīng)用案例表明，Multitest能夠?qū)⒓夹g(shù)專長(zhǎng)和創(chuàng)新與“plug & yield”供應(yīng)商獨(dú)特服務(wù)水準(zhǔn)完美結(jié)合。

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