計(jì)算機(jī)芯片爆出重大漏洞，可能導(dǎo)致電子設(shè)備失效！

近日，據(jù)國外媒體報(bào)道，華盛頓州立大學(xué)的一個(gè)研究小組發(fā)現(xiàn)了高性能計(jì)算機(jī)芯片中，存在一個(gè)可能導(dǎo)致電子設(shè)備失效的重大且未知的漏洞。

研究人員發(fā)現(xiàn)，如果有人通過故意增加惡意負(fù)載，可能會(huì)破壞芯片上的通信系統(tǒng)，并大大縮短整個(gè)計(jì)算機(jī)芯片的使用壽命。

這個(gè)圖顯示了一個(gè)3D多核芯片，其中處理核心通過垂直鏈接連接

該研究是由華盛頓州立大學(xué)電氣工程和計(jì)算機(jī)科學(xué)學(xué)院助理教授帕莎·潘德(Partha Pande)的領(lǐng)導(dǎo)下開展的，并在最近的2018年IEEE/ACM 國際網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)上進(jìn)行了報(bào)告。

帕莎·潘德的研究小組一直致力于研究計(jì)算機(jī)芯片的漏洞，以此來防止某些對日常生活中電子產(chǎn)品的惡意攻擊。

目前一些消費(fèi)類電子產(chǎn)品供應(yīng)商，如蘋果和三星等公司就曾被指控利用自己電子產(chǎn)品的漏洞，向用戶發(fā)送軟件更新，故意降低早期手機(jī)型號的速度，以鼓勵(lì)客戶采購新產(chǎn)品。

研究人員此前已經(jīng)研究過計(jì)算機(jī)芯片組件，例如處理器、內(nèi)存和安全漏洞電路，但是這次華盛頓大學(xué)的研究小組發(fā)現(xiàn)了更嚴(yán)重的漏洞，其存在于精密通信主干網(wǎng)中具有高性能的計(jì)算機(jī)芯片中。

潘德說：“通訊系統(tǒng)是把所有計(jì)算機(jī)系統(tǒng)粘合在一起的‘膠水’，當(dāng)它發(fā)生故障時(shí)，整個(gè)系統(tǒng)就會(huì)崩潰。”

高性能計(jì)算機(jī)往往使用大量處理器，應(yīng)對大數(shù)據(jù)應(yīng)用程序和云計(jì)算，其中就需要通信系統(tǒng)協(xié)調(diào)處理器和內(nèi)存的工作。研究人員正在努力增加處理器內(nèi)核的數(shù)量，并將高性能的功能整合到手持設(shè)備中。

研究人員設(shè)計(jì)了三種“構(gòu)造巧妙”的惡意攻擊來測試通信系統(tǒng)，這種攻擊增加了電遷移引起的應(yīng)力和串?dāng)_噪聲。研究人員發(fā)現(xiàn)，通信系統(tǒng)中數(shù)量有限的重要垂直鏈接特別容易受影響而失效。這些鏈接的作用是將堆棧中的處理器連接起來，從而允許它們進(jìn)行對話。

潘德說：“我們確定了一個(gè)代理如何能夠針對通信系統(tǒng)啟動(dòng)芯片中的故障做手腳。研究委員會(huì)過去尚不清楚通信系統(tǒng)會(huì)起到的作用和威脅。”

研究人員現(xiàn)在將致力于研究應(yīng)對這一問題的方法，例如自動(dòng)檢測和阻止攻擊的技術(shù)和算法。