NI通過FPGA提供靈活高效測(cè)試解決方案

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了針對(duì)802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙技術(shù)的測(cè)試解決方案，結(jié)合了NI圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件和基于FPGA的PXI模塊化儀器，提供了可完全用戶自定義的高性能測(cè)試能力。這些測(cè)試解決方案結(jié)合NI提供的包括手機(jī)測(cè)試、導(dǎo)航儀測(cè)試和無線連接測(cè)試在內(nèi)的其他解決方案，可以有效地幫助工程師在一個(gè)單一的高性能平臺(tái)上全面的測(cè)試他們的設(shè)備。

感言

“使用軟件定義的矢量信號(hào)收發(fā)儀和WLAN測(cè)試套件，與傳統(tǒng)的機(jī)架堆疊式測(cè)試儀器相比，我們提高了超過200倍的測(cè)試速度，同時(shí)還大大增加了測(cè)試項(xiàng)的覆蓋率”Doug Johnson高通Atheros公司工程總監(jiān)表示。

產(chǎn)品特性：

在256 QAM測(cè)試方面具有業(yè)內(nèi)頂尖的-47dB RMS EVM，是產(chǎn)品測(cè)試和特性描述的理想選擇

可以在NI PXIe-5644R VST的板載FPGA上實(shí)現(xiàn)測(cè)量和用戶自定義的算法，能夠完成快速的測(cè)量和實(shí)時(shí)的測(cè)試。