研究稱手機(jī)缺陷或致腦癌 無(wú)害論是一面之詞(圖)

8月27日消息 國(guó)際電磁輻射調(diào)查機(jī)構(gòu)日前向政府遞交的文件表明，手機(jī)的設(shè)計(jì)中存在的缺陷可能導(dǎo)致對(duì)用戶大腦的損害。

報(bào)告的結(jié)論表明：“手機(jī)用戶有顯著的腦癌風(fēng)險(xiǎn)。”在此之前的無(wú)害言論，完全基于政府和產(chǎn)業(yè)的一面之詞，建立在EMR毫無(wú)生物影響的前提下。而手機(jī)設(shè)計(jì)的缺陷確實(shí)有可能對(duì)用戶的健康造成損害。