NI通過FPGA提供WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測(cè)試解決方案

· 全新發(fā)布的針對(duì)802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測(cè)試的NI解決方案集成了NI WLAN測(cè)量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)。

· NI針對(duì)802.11ac WLAN和藍(lán)牙的測(cè)試解決方案提供了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的誤差矢量幅度(EVM)測(cè)試性能，并且在生產(chǎn)測(cè)試的吞吐量上比傳統(tǒng)的箱式測(cè)試儀器高出5倍。

2012年10月- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments， 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布了針對(duì)802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙技術(shù)的測(cè)試解決方案，結(jié)合了NI圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件和基于FPGA的PXI模塊化儀器，提供了可完全用戶自定義的高性能測(cè)試能力。這些測(cè)試解決方案結(jié)合NI提供的包括手機(jī)測(cè)試、導(dǎo)航儀測(cè)試和無線連接測(cè)試在內(nèi)的其他解決方案，可以有效地幫助工程師在一個(gè)單一的高性能平臺(tái)上全面的測(cè)試他們的設(shè)備。

“使用軟件定義的矢量信號(hào)收發(fā)儀和WLAN測(cè)試套件，與傳統(tǒng)的機(jī)架堆疊式測(cè)試儀器相比，我們提高了超過200倍的測(cè)試速度，同時(shí)還大大增加了測(cè)試項(xiàng)的覆蓋率”Doug Johnson高通Atheros公司工程總監(jiān)表示。

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