NI新款SMU量測速度比傳統(tǒng)快一百倍
NI測試系統(tǒng)的資深部門經(jīng)理Luke Schreier表示,有了NI PXIe-4139,工程師和科學(xué)家即可享有廣大的IV范圍,像是高達(dá)500瓦(W)的脈波產(chǎn)生功能,以及100fA的靈敏度,透過單一儀器即可測試多種裝置。NI PXIe-4139的精巧機(jī)身也是關(guān)鍵之一,相較于舊款箱型儀器的SMU,有助于大幅減少系統(tǒng)體積。
Schreier指出,如果想要隨時(shí)掌握越來越復(fù)雜的現(xiàn)代電子裝置,就會(huì)需要全新的儀器思維。有了SourceAdapt技術(shù),再加上PXI模組化儀器和NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟體固有的優(yōu)勢,工程師即可縮短測試時(shí)間、保護(hù)待測裝置,藉此享有理想的競爭優(yōu)勢。
NI PXIe-4139搭載了NI SourceAdapt技術(shù),可幫助工程師客制化SMU控制回路,針對(duì)各種負(fù)載產(chǎn)生最理想的SMU響應(yīng),這么做有助于保護(hù)待測裝置,提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性。此外,NI PXIe-4139系統(tǒng)SMU可以1.8MS/s的速度執(zhí)行量測,比傳統(tǒng)SMU快了一百倍,不但能夠縮短測試時(shí)間,還可以幫助工程師掌握暫態(tài)裝置的行為,不需要額外設(shè)備。
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