諾信展出全新高速精確FX SL AOI檢測(cè)儀
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元器件交易網(wǎng)訊 10月28日消息,據(jù)外媒Tomshardware報(bào)道,全球自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)和高分辨率 x-射線檢測(cè)系統(tǒng)的領(lǐng)先供應(yīng)商N(yùn)ordson Yestech宣布將于11月12日至15日(北京時(shí)間),在德國(guó)慕尼黑展覽會(huì)上展出全新FX SL自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),特點(diǎn)在于可利用內(nèi)置有3D高度傳感器的多角度像機(jī),快速“捕獲到飛行物體 ”并進(jìn)行全彩色數(shù)字圖像處理。
其次,檢測(cè)系統(tǒng)配有5個(gè)全彩色高速智能數(shù)字攝像頭。攝像頭的行走位置都是根據(jù)智能機(jī)器學(xué)習(xí)方法進(jìn)行了路徑的最優(yōu)化設(shè)置 , 確保像機(jī)以最短、最快的方式進(jìn)行測(cè)試。
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器件檢測(cè)部分,采用自主開發(fā)的基于機(jī)器學(xué)習(xí)策略的數(shù)字圖像特征 分類與識(shí)別算法,充分利用數(shù)字圖像的顏色、性狀以及統(tǒng)計(jì)信息,檢測(cè)準(zhǔn)確度更高,可以檢測(cè)出灰度算法無法檢測(cè)的彩色標(biāo)識(shí)的器件,以及器件缺漏、錯(cuò)位、翻轉(zhuǎn)、側(cè)立、破損、錯(cuò)誤器件、錯(cuò)誤極性等錯(cuò)誤。
生產(chǎn)環(huán)境部分,只需要器件的XY坐標(biāo)和電路板的出料單(BOM)就可自動(dòng)學(xué)習(xí),無需建立維護(hù)專門的元件庫(kù)、封裝庫(kù)、 或者復(fù)雜的轉(zhuǎn)換軟件,適合國(guó)內(nèi)復(fù)雜的生產(chǎn)環(huán)境,學(xué)習(xí)使用的標(biāo)準(zhǔn)電路板可以容錯(cuò)、不影響編程的正確性。
Nordson Yestech公司表示,“全新FX SL自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)將提供高速、全覆蓋率PCB檢查,表面上、線路板上面的開短路都能檢測(cè)到。”全新FX SL自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)可用于印刷電路板組件、高級(jí)半導(dǎo)體封裝。 (元器件交易網(wǎng)龍燕 編譯)
外媒原文:
Yestech demos fast AOI with colour imaging
Nordson Yestech will show its FX SL advanced AOI inspection system for PCBs at Productronica exhibition in Munich ( November 12 – 15).
UntitledThe FX SL AOI, which will be demonstrated on the Yestech Stand 438 in Hall A2, offers high speed “capture on the fly” inspection using angled cameras, a 3D height sensor, full color digital image processing technology and both image- and rule-based algorithms.
Configurable for all line positions, the system can be used for paste, pre / post-reflow and final assembly inspection.
The use of advance colour imaging offers “high-speed PCB inspection with exceptional defect coverage”, said the supplier.
With one top-down viewing camera and four side-viewing cameras, the FX SL inspects solder joints and verifies correct part assembly.
The California-based company will also be showing the BX-UV inspection system for conformal coatings in the “Cleaning and Contamination Testing Centre,” located in Hall A2, Stand 429 during the four-day event.