AMD選吉時(shí)利半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

吉時(shí)利儀器公司近日消息，美國AMD公司選用吉時(shí)利（Keithley）公司S680型直流/射頻 (DC/RF)半導(dǎo)體 參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，以支持AMD公司位于德國德累斯頓市技術(shù)發(fā)展水平最高的300mm Fab 36的先進(jìn)邏輯芯片的全部生產(chǎn)。S680直流/射頻 (DC/RF) 系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)包括先進(jìn)的測(cè)量能力、較低的保有成本、很高的產(chǎn)量以及強(qiáng)有力的本地服務(wù)和技術(shù)支持。 “AMD公司選用吉時(shí)利S680型參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)說明該系統(tǒng)已成為在半導(dǎo)體芯片大批量制造過程中進(jìn)行過程控制的重要設(shè)備，提供晶圓級(jí)電氣測(cè)量的良好選擇?！奔獣r(shí)利公司業(yè)務(wù)發(fā)展部副總裁Mark Hoersten先生說，“無論是高性能邏輯電路制造商，還是高性能模擬集成電路制造商，都逐漸轉(zhuǎn)而要求吉時(shí)利公司為他們最先進(jìn)的下一代半導(dǎo)體工藝提供電氣參數(shù)測(cè)試機(jī)臺(tái)。這些工藝包括目前正在部署的90nm工藝和65nm工藝，連同他們正在使用的工藝，這將有助于開發(fā)業(yè)內(nèi)最尖端的45nm工藝?！?吉時(shí)利公司的S680型直流/射頻 (DC/RF)參數(shù) 測(cè)試系統(tǒng)于2003年首次推向市場(chǎng)，專為無線通訊和高速數(shù)字器件的晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試而設(shè)計(jì)。該測(cè)試機(jī)臺(tái)將兩個(gè)關(guān)鍵性的測(cè)試功能――DC和RF測(cè)試功能綜合到一個(gè)測(cè)試序列中，從而大大提高了總的測(cè)試產(chǎn)量。該集成方法排除了較長(zhǎng)的校準(zhǔn)和測(cè)試時(shí)間，也無需單獨(dú)、昂貴的且僅用于RF的探針臺(tái)。另外，再加上吉時(shí)利公司半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)獨(dú)有的并行測(cè)試能力可使IC制造商將其測(cè)試成本降到最低。如果您想了解S680型直流/射頻 (DC/RF) 參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)或任何吉時(shí)利半導(dǎo)體測(cè)試解決方案，請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系吉時(shí)利儀器公司（中國）市場(chǎng)部。