NI發(fā)布《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》報(bào)告

近日，美國(guó)國(guó)家儀器公司NI就目前最新測(cè)試測(cè)量技術(shù)和方法，發(fā)布了《2012年自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》。該趨勢(shì)報(bào)告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，對(duì)影響當(dāng)前和未來(lái)的電子行業(yè)的商業(yè)策略、架構(gòu)等進(jìn)行了探討。對(duì)消費(fèi)電子產(chǎn)品、汽車(chē)、半導(dǎo)體，航空航天與國(guó)防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊等行業(yè)影響進(jìn)行了解析。

該趨勢(shì)報(bào)告由商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O當(dāng)5個(gè)類(lèi)別以及2012年自動(dòng)化測(cè)試主要趨勢(shì)等內(nèi)容構(gòu)成。尤其是新興的移動(dòng)設(shè)備改變行業(yè)架構(gòu)等未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。在該報(bào)告中提出了未來(lái)測(cè)試組織優(yōu)化趨勢(shì)，即各個(gè)組織將測(cè)試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)以獲得優(yōu)勢(shì)。同時(shí)未來(lái)還將復(fù)雜模型與真實(shí)測(cè)量集合，以有力推動(dòng)開(kāi)發(fā)。PCI Express外部接口則會(huì)以高速、低延遲PC內(nèi)部總線(xiàn)擁有新的系統(tǒng)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。報(bào)告中還著重強(qiáng)調(diào)了，現(xiàn)代移動(dòng)設(shè)備的快速普及，如智能手機(jī)和平板電腦的普及等，對(duì)測(cè)試系統(tǒng)控制和監(jiān)測(cè)方式的影響。

該報(bào)告由NI測(cè)試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會(huì)編寫(xiě)，主要促進(jìn)測(cè)試行業(yè)交流以及技術(shù)創(chuàng)新，對(duì)用戶(hù)提供最佳的測(cè)量測(cè)試方法。