[導(dǎo)讀]美國吉時利儀器公司宣布為其功能強大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測量功能—— 4200-CVU。
美國吉時利儀器公司宣布為其功能強大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以測量模塊的形式插入 4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內(nèi)快速而方便地測量飛法（fF）和納法（nF）級電容。在 4200-CVU的創(chuàng)新設(shè)計中采用當(dāng)前最先進的高性能電路，有8項專利正在申請中。該設(shè)備具有直觀的點擊式配置界面，線纜連接簡單，內(nèi)置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測量結(jié)果。無論用戶是否具有相關(guān)測量經(jīng)驗，都能使用該儀器實現(xiàn)專業(yè)級的C-V測量。
4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時利 4200-LS-LC-12結(jié)合使用將實現(xiàn)更高測量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關(guān)矩陣卡，通過單針探測能實現(xiàn)高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶如I-V測試一樣輕松配置和執(zhí)行功能全面的C-V測試。
通過對4200-SCS系列產(chǎn)品功能的進一步增強，吉時利繼續(xù)保持在C-V測量領(lǐng)域領(lǐng)先地位，僅4200這一種半導(dǎo)體測量儀器就能滿足非常廣泛的測量應(yīng)用需求，其中涵蓋了種類豐富的探測器、器件類型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內(nèi)的測量方法學(xué)。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統(tǒng)無法解決的問題，例如無法提供完整的C-V/I-V/脈沖，或者用戶接口和軟件庫支持不足。此外，該系統(tǒng)靈活而強大的測試執(zhí)行引擎能夠十分方便地在同一測試序列中整合C-V、I-V和脈沖測試。因此，4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測試工具。
此外，吉時利公司4200-SCS仍然支持利用各種第三方測試設(shè)備進行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點使得4200-SCS/CVU非常適合于：
· 半導(dǎo)體技術(shù)研發(fā) 、工藝研發(fā)和可靠性研究實驗室；
· 材料與器件研究實驗室和機構(gòu)；
· 需要臺式DC或脈沖測試設(shè)備的實驗室；
· 需要體積小而功能多、儀器多的非專業(yè)實驗室與用戶。
現(xiàn)今市場流行的半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)中，吉時利4200-SCS具有最直觀的基于Windows的界面（GUI）。據(jù)多年客戶交互和反饋的研發(fā)經(jīng)驗，新型4200-CVU硬件和軟件模塊仍將保持易于使用的特點，是4200-SCS交互式測試環(huán)境和執(zhí)行引擎的自然延伸。吉時利為4200-CVU的硬件提供大量程序范例、測試庫、以及唾手可得的內(nèi)置參數(shù)提取實例。八個軟件庫提供最廣泛的C-V測試和分析功能，涵蓋所有標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用，其中包括針對高K和低K材料、MOSFET、BJT、二極管、Flash存儲器、光電池單元、III-V族化合物器件、碳納米管（CNT）器件的C-V、C-t、C-f測量與分析。除測量結(jié)電容、管腳間電容以及互連線電容之外，系統(tǒng)提供的分析與參數(shù)提取軟件還能夠?qū)崿F(xiàn)摻雜分布、TOX、游離子和載流子壽命的分析功能。這些測試包括各種線性的和自定義的C-V掃描、C與時間的關(guān)系、C與頻率的關(guān)系分析功能。
吉時利C-V/I-V分析提取工具提供定義清晰的開放式環(huán)境，用戶能夠很方便地修改和定制測試?yán)獭＜獣r利工程師根據(jù)其豐富的應(yīng)用經(jīng)驗開發(fā)的多個工程范例，能夠大大縮短用戶程序開發(fā)時間。
4200-CVU提供多種先進的診斷工具，幫助用戶確保C-V測量結(jié)果的正確性。在用戶不能確定測試結(jié)果是否準(zhǔn)確時，僅需點擊屏幕上“Confidence Check”按鈕，或者使用實時面板屏蔽部分測試設(shè)置進行驗證即可。
通過簡短學(xué)習(xí)操作，功能強大的4200-SCS就能提供最佳的使用體驗，并順利解決提高器件特征分析和建模的產(chǎn)能和效率這一長期困擾半導(dǎo)體實驗室管理者的問題。
4200-CVU具有無可比擬的測量精度、速度和效率，這主要得益于 4200-SCS的高速數(shù)字測量硬件以及軟硬件系統(tǒng)的密切配合，以及吉時利一貫堅持的低噪聲系統(tǒng)設(shè)計原則。兩項優(yōu)勢的結(jié)合意味著，無論簡單的任務(wù)，如配置一次測量操作或者通過一次鼠標(biāo)點擊操作執(zhí)行一個預(yù)定的測試序列，還是復(fù)雜的任務(wù)，如觸發(fā)并繪制多重C-V 掃描曲線， 4200-CVU都能極大提高測試產(chǎn)能。4200-CVU系統(tǒng)采用高速數(shù)字架構(gòu)，與其他對手的C-V測量儀器相比，能夠更快速地運行、描繪出實時C-V掃描曲線。
除能在功能靈活、高度集成的測試環(huán)境中實現(xiàn)I-V、C-V和脈沖測試之外， 4200-SCS還為用戶提供多種備選功能，主要包括8個中、高功率的DC源測量單元（SMU）、雙通道脈沖、波形發(fā)生器和一個完整的數(shù)字示波器。同 4200-CVU一樣，所有設(shè)備都可插入到 4200-SCS的設(shè)備插槽中，并且通過功能強大的吉時利交互式測試環(huán)境（KTEI，7.0版）進行控制。其點擊式用戶界面能幫助用戶輕松實現(xiàn)一系列測試設(shè)置、測試序列控制和數(shù)據(jù)分析操作。 KTEI還能控制外部設(shè)備，包括大部分常用的探測器、高溫卡盤（hot chuck）和測試夾具，以及吉時利高集成度的、當(dāng)前業(yè)界連接功能最靈活的開關(guān)矩陣。
吉時利對 4200-SCS用戶提供持續(xù)軟硬件升級服務(wù)，這意味著 4200-CVU模塊及其所有相關(guān)軟件和可選硬件都能夠兼容早期的 4200-SCS系統(tǒng)。由此，用戶完全無須因為設(shè)備或材料技術(shù)的更新而頻繁購買新的參數(shù)化分析儀。通過低成本升級，4200-SCS系統(tǒng)能夠滿足技術(shù)進步帶來的測試需求， 滿足當(dāng)前競爭激烈的測量需求，最大限度地降低對外部硬件和測試程序的投資。
4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時利 4200-LS-LC-12結(jié)合使用將實現(xiàn)更高測量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關(guān)矩陣卡，通過單針探測能實現(xiàn)高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶如I-V測試一樣輕松配置和執(zhí)行功能全面的C-V測試。
通過對4200-SCS系列產(chǎn)品功能的進一步增強，吉時利繼續(xù)保持在C-V測量領(lǐng)域領(lǐng)先地位，僅4200這一種半導(dǎo)體測量儀器就能滿足非常廣泛的測量應(yīng)用需求，其中涵蓋了種類豐富的探測器、器件類型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內(nèi)的測量方法學(xué)。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統(tǒng)無法解決的問題，例如無法提供完整的C-V/I-V/脈沖，或者用戶接口和軟件庫支持不足。此外，該系統(tǒng)靈活而強大的測試執(zhí)行引擎能夠十分方便地在同一測試序列中整合C-V、I-V和脈沖測試。因此，4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測試工具。
此外，吉時利公司4200-SCS仍然支持利用各種第三方測試設(shè)備進行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點使得4200-SCS/CVU非常適合于：
· 半導(dǎo)體技術(shù)研發(fā) 、工藝研發(fā)和可靠性研究實驗室；
· 材料與器件研究實驗室和機構(gòu)；
· 需要臺式DC或脈沖測試設(shè)備的實驗室；
· 需要體積小而功能多、儀器多的非專業(yè)實驗室與用戶。
現(xiàn)今市場流行的半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)中，吉時利4200-SCS具有最直觀的基于Windows的界面（GUI）。據(jù)多年客戶交互和反饋的研發(fā)經(jīng)驗，新型4200-CVU硬件和軟件模塊仍將保持易于使用的特點，是4200-SCS交互式測試環(huán)境和執(zhí)行引擎的自然延伸。吉時利為4200-CVU的硬件提供大量程序范例、測試庫、以及唾手可得的內(nèi)置參數(shù)提取實例。八個軟件庫提供最廣泛的C-V測試和分析功能，涵蓋所有標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用，其中包括針對高K和低K材料、MOSFET、BJT、二極管、Flash存儲器、光電池單元、III-V族化合物器件、碳納米管（CNT）器件的C-V、C-t、C-f測量與分析。除測量結(jié)電容、管腳間電容以及互連線電容之外，系統(tǒng)提供的分析與參數(shù)提取軟件還能夠?qū)崿F(xiàn)摻雜分布、TOX、游離子和載流子壽命的分析功能。這些測試包括各種線性的和自定義的C-V掃描、C與時間的關(guān)系、C與頻率的關(guān)系分析功能。
吉時利C-V/I-V分析提取工具提供定義清晰的開放式環(huán)境，用戶能夠很方便地修改和定制測試?yán)獭＜獣r利工程師根據(jù)其豐富的應(yīng)用經(jīng)驗開發(fā)的多個工程范例，能夠大大縮短用戶程序開發(fā)時間。
4200-CVU提供多種先進的診斷工具，幫助用戶確保C-V測量結(jié)果的正確性。在用戶不能確定測試結(jié)果是否準(zhǔn)確時，僅需點擊屏幕上“Confidence Check”按鈕，或者使用實時面板屏蔽部分測試設(shè)置進行驗證即可。
通過簡短學(xué)習(xí)操作，功能強大的4200-SCS就能提供最佳的使用體驗，并順利解決提高器件特征分析和建模的產(chǎn)能和效率這一長期困擾半導(dǎo)體實驗室管理者的問題。
4200-CVU具有無可比擬的測量精度、速度和效率，這主要得益于 4200-SCS的高速數(shù)字測量硬件以及軟硬件系統(tǒng)的密切配合，以及吉時利一貫堅持的低噪聲系統(tǒng)設(shè)計原則。兩項優(yōu)勢的結(jié)合意味著，無論簡單的任務(wù)，如配置一次測量操作或者通過一次鼠標(biāo)點擊操作執(zhí)行一個預(yù)定的測試序列，還是復(fù)雜的任務(wù)，如觸發(fā)并繪制多重C-V 掃描曲線， 4200-CVU都能極大提高測試產(chǎn)能。4200-CVU系統(tǒng)采用高速數(shù)字架構(gòu)，與其他對手的C-V測量儀器相比，能夠更快速地運行、描繪出實時C-V掃描曲線。
除能在功能靈活、高度集成的測試環(huán)境中實現(xiàn)I-V、C-V和脈沖測試之外， 4200-SCS還為用戶提供多種備選功能，主要包括8個中、高功率的DC源測量單元（SMU）、雙通道脈沖、波形發(fā)生器和一個完整的數(shù)字示波器。同 4200-CVU一樣，所有設(shè)備都可插入到 4200-SCS的設(shè)備插槽中，并且通過功能強大的吉時利交互式測試環(huán)境（KTEI，7.0版）進行控制。其點擊式用戶界面能幫助用戶輕松實現(xiàn)一系列測試設(shè)置、測試序列控制和數(shù)據(jù)分析操作。 KTEI還能控制外部設(shè)備，包括大部分常用的探測器、高溫卡盤（hot chuck）和測試夾具，以及吉時利高集成度的、當(dāng)前業(yè)界連接功能最靈活的開關(guān)矩陣。
吉時利對 4200-SCS用戶提供持續(xù)軟硬件升級服務(wù)，這意味著 4200-CVU模塊及其所有相關(guān)軟件和可選硬件都能夠兼容早期的 4200-SCS系統(tǒng)。由此，用戶完全無須因為設(shè)備或材料技術(shù)的更新而頻繁購買新的參數(shù)化分析儀。通過低成本升級，4200-SCS系統(tǒng)能夠滿足技術(shù)進步帶來的測試需求， 滿足當(dāng)前競爭激烈的測量需求，最大限度地降低對外部硬件和測試程序的投資。
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