MEMS加速度計為條件監(jiān)測應(yīng)用提供極具吸引力的噪聲性能

Analog Devices, Inc.推出兩款專門針對工業(yè)條件監(jiān)測應(yīng)用而設(shè)計的高頻率、低噪聲MEMS加速度計ADXL1001和ADXL1002。

利用這些MEMS加速度計可實現(xiàn)高分辨率振動測量，為早期發(fā)現(xiàn)軸承故障和機器故障的其他常見原因提供必要的信息。

過去，可用高頻MEMS加速度計的噪聲性能不及傳統(tǒng)技術(shù)，阻礙了其應(yīng)用，使得MEMS的可靠性、高質(zhì)量和可重復性得不到發(fā)揮。如今，ADXL1001和ADXL1002在高頻率范圍的噪聲性能與現(xiàn)有壓電傳感器技術(shù)不相上下，故ADI MEMS加速度計是新型條件監(jiān)測產(chǎn)品的極具吸引力的選擇。

ADXL1001和ADXL1002是ADI公司高性能精密檢測技術(shù)的最新典范，可為智能工廠物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用提供高質(zhì)量、高精度數(shù)據(jù)，支持在網(wǎng)絡(luò)邊緣開展智能檢測。