隨著航空,航天,能源工業(yè)等領(lǐng)域?qū)﹄娮赢a(chǎn)品質(zhì)量的要求日益提高,電子產(chǎn)品的可靠性問題受到越來越廣泛的重視。電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同環(huán)境條件,在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能力差的電子元器件就容易失效,導(dǎo)致電子產(chǎn)品故障,造成巨大的人力和財(cái)力損失。電子元器件的老化測(cè)試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),
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