優(yōu)化測試

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  • 優(yōu)化測試和調(diào)試流程：提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性

    在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，F(xiàn)PGA（現(xiàn)場可編程門陣列）已成為實(shí)現(xiàn)高性能、高可靠性系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。然而，隨著FPGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜性不斷增加，測試和調(diào)試流程也面臨著巨大的挑戰(zhàn)。為了提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性和可維護(hù)性，優(yōu)化測試和調(diào)試流程顯得尤為重要。本文將探討如何通過內(nèi)建自測試、掃描鏈插入以及調(diào)試邏輯等方法來優(yōu)化FPGA的測試和調(diào)試流程，并結(jié)合示例代碼進(jìn)行說明。

  • 如何通過優(yōu)化測試和調(diào)試流程來提高FPGA設(shè)計(jì)的可靠性

    在復(fù)雜多變的電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）以其高度的靈活性和可配置性，成為實(shí)現(xiàn)高性能、高可靠性系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。然而，F(xiàn)PGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜性也帶來了測試與調(diào)試的巨大挑戰(zhàn)。優(yōu)化測試和調(diào)試流程，不僅能夠有效提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性，還能加速產(chǎn)品上市時間，降低開發(fā)成本。本文將從多個方面探討如何通過優(yōu)化測試和調(diào)試流程來提高FPGA設(shè)計(jì)的可靠性，并結(jié)合示例代碼進(jìn)行說明。

  • TD商務(wù)終端的路測與優(yōu)化測試

    在中國移動集團(tuán)公司每年組織的TD-SCDMA（以下簡稱TD）網(wǎng)絡(luò)自動路測考核中，各省會城市、部分地級市都取得了不俗的成績，表明TD網(wǎng)絡(luò)已實(shí)現(xiàn)較好的連續(xù)覆蓋。但是，對于廣大的用戶來說，TD終端在使用過程中總會遇到這樣