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汽車零部件低功耗測(cè)試三大難點(diǎn)
摘要：休眠、待機(jī)功耗是衡量零部件能耗的重要指標(biāo)，許多部件在待機(jī)時(shí)，會(huì)有周期喚醒或者間隔脈沖響應(yīng)，產(chǎn)生較大的脈沖功耗。
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STM32F103VCT6低功耗測(cè)試（待機(jī)模式）
只測(cè)試了待機(jī)模式，待機(jī)模式實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最低功耗。原理圖如下，一開始全部焊接了，其中S2用來進(jìn)入待機(jī)，S1用來喚醒測(cè)試程序?yàn)椋?include"stm32f10x.h"#include"system_stm32f10x.h"voidSys_Standby(void){RCC_APB1Per
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世強(qiáng)開放實(shí)驗(yàn)室活動(dòng)日，解決超低功耗測(cè)試和電池性能測(cè)試難題
自世強(qiáng)與是德科技(Keysight)共同建立的開放實(shí)驗(yàn)室成立以來，一直堅(jiān)持不懈地為企業(yè)進(jìn)行免費(fèi)的產(chǎn)品測(cè)試和支持，9月20日，世強(qiáng)還特別舉辦開放實(shí)驗(yàn)室活動(dòng)日專題研討會(huì)，與工程師共同探討和分享了最新的低功耗和電池性能測(cè)試技術(shù)。準(zhǔn)確掌握器件的低功耗性能和電池的能量消耗情況，對(duì)無線通訊、物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備、消費(fèi)類電子、汽車電子等行業(yè)客戶而言意義重大。
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STM32L152的低功耗測(cè)試
本文將驗(yàn)證STM32L32在stop模式下的低功耗電流。在ST官網(wǎng)的STM32L152RE芯片介紹上明確有說明此芯片在stop模式下可以達(dá)到560nA，納安！并且還可以支持16個(gè)外部中斷喚醒。真的這么強(qiáng)！下面來驗(yàn)證一下。采用NUCLEO-L152板
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世強(qiáng)-是德開放實(shí)驗(yàn)室：免費(fèi)為企業(yè)進(jìn)行低功耗測(cè)試
為解決企業(yè)的測(cè)試煩惱，快速有效的實(shí)現(xiàn)低功耗測(cè)試，世強(qiáng)-是德開放實(shí)驗(yàn)室給出了解決辦法，所有企業(yè)均可在世強(qiáng)-是德開放實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行免費(fèi)檢測(cè)。
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車位檢測(cè)器低功耗測(cè)試方案
車位檢測(cè)器是智能停車系統(tǒng)的關(guān)鍵部件，其在待機(jī)狀態(tài)時(shí)，電流小至20μA以下，發(fā)射狀態(tài)時(shí)，電流高達(dá)幾A，車位檢測(cè)器多采用電池供電，對(duì)功耗要求很高，待機(jī)電流偏小及電流的
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基于FPGA的準(zhǔn)單輸入調(diào)變序列生成器設(shè)計(jì)
1.引言隨著集成電路復(fù)雜度越來越高，測(cè)試開銷在電路和系統(tǒng)總開銷中所占的比例不斷上升，測(cè)試方法的研究顯得非常突出。目前在測(cè)試源的劃分上可以采用內(nèi)建自測(cè)試或片外測(cè)試。內(nèi)建自測(cè)試把測(cè)試源和被測(cè)電路都集成在芯片
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生產(chǎn)制造中的低功耗測(cè)試方法
受無線和高功效器件的普及以及提供“綠色”電子系統(tǒng)的需求驅(qū)動(dòng)，設(shè)計(jì)師越來越多地采用低功率設(shè)計(jì)來應(yīng)對(duì)越來越艱巨的功能性功耗挑戰(zhàn)。直到最近，管理制造測(cè)試過程中的功率問題已經(jīng)成為第二大備受業(yè)界關(guān)注的要求。但隨
