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手機(jī)電磁兼容測(cè)試常見問題及改進(jìn)建議
本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問題，包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。1、靜電放電抗擾度試驗(yàn)1.1靜電放電抗擾度試驗(yàn)常見問題靜電放電抗擾度測(cè)試中出現(xiàn)的問題主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面。(
