魏少軍領(lǐng)導(dǎo)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的CPU硬件安全動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)管控技術(shù)便致力于解決這一難題。該技術(shù)首次提出用獨(dú)立的芯片“動(dòng)態(tài)”監(jiān)測(cè)硬件安全,讓CPU硬件安全的保障手段從以傳統(tǒng)的流程管控和靜態(tài)檢測(cè)為主的“事前預(yù)防”,擴(kuò)大到了“事中監(jiān)測(cè)”和“管控危害”,從而構(gòu)建起了完善的CPU硬件安全防護(hù)體系。
由于CCD具有尺寸小、重量輕、功耗低、超低噪聲、動(dòng)態(tài)范圍較大、線性好、光計(jì)量準(zhǔn)確、光譜響應(yīng)范圍寬、幾何結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、工作可靠和耐用等優(yōu)點(diǎn),因而在工件尺寸測(cè)量、工件表面質(zhì)量檢測(cè)。