魏少軍領(lǐng)導(dǎo)團隊研發(fā)的CPU硬件安全動態(tài)監(jiān)測管控技術(shù)便致力于解決這一難題。該技術(shù)首次提出用獨立的芯片“動態(tài)”監(jiān)測硬件安全,讓CPU硬件安全的保障手段從以傳統(tǒng)的流程管控和靜態(tài)檢測為主的“事前預(yù)防”,擴大到了“事中監(jiān)測”和“管控危害”,從而構(gòu)建起了完善的CPU硬件安全防護體系。
由于CCD具有尺寸小、重量輕、功耗低、超低噪聲、動態(tài)范圍較大、線性好、光計量準(zhǔn)確、光譜響應(yīng)范圍寬、幾何結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、工作可靠和耐用等優(yōu)點,因而在工件尺寸測量、工件表面質(zhì)量檢測。