場(chǎng)致發(fā)射

碳納米管場(chǎng)發(fā)射電流密度衰減特性的研究進(jìn)展

摘要:從1995年碳納米管場(chǎng)發(fā)射實(shí)驗(yàn)研究報(bào)道以來,碳納米管因其優(yōu)異的電學(xué)特性、大長(zhǎng)徑比,被認(rèn)為是21世紀(jì)最具有應(yīng)用潛力和研究?jī)r(jià)值的場(chǎng)發(fā)射電子源。然而,碳納米管的發(fā)射電流密度不穩(wěn)定問題嚴(yán)重困擾著人們對(duì)其進(jìn)一步開發(fā)應(yīng)用,在高電壓下高電流密度維持不穩(wěn)定、壽命短等問題一直是器件應(yīng)用的主要障礙?，F(xiàn)主要從碳納米管場(chǎng)發(fā)射電流密度的影響因素入手,介紹接觸電阻、空間電荷效應(yīng)以及相鄰碳納米管間的相互作用等3種可能導(dǎo)致場(chǎng)發(fā)射電流密度不穩(wěn)定、降低的物理機(jī)理,對(duì)碳納米管場(chǎng)發(fā)射器件分析和應(yīng)用具有參考意義。