在《如何處理高di/dt負載瞬態(tài)(上)》中,我們討論了電流快速變化時一些負載的電容旁路要求。我們發(fā)現(xiàn)必須讓低等效串聯(lián)電感(ESL)電容器靠近負載,因為不到0.5 nH便可產(chǎn)生
就許多中央處理器 (CPU) 而言,規(guī)范要求電源必須能夠提供大而快速的充電輸出電流,特別是當處理器變換工作模式的時候。例如,在 1V 的系統(tǒng)中,100 A/uS 負載瞬態(tài)可能會要
涉及塑料集成電路(IC)潮濕敏感性的情況漸漸地變得越來越壞,這是由于許多工業(yè)趨勢所造成的,其中包括對用來支持關(guān)鍵通信和技術(shù)應(yīng)用的更高可靠性產(chǎn)品的不斷尋求。單單潮濕敏感性元件(MSD, moisture-sensitive device)
當異常發(fā)生時,ARM處理器盡可能完成當前指令(除了復(fù)位異常)后,再去處理異常。并執(zhí)行如下動作: 1. 進入與特定的異常相應(yīng)的操作模式。 2. 將引起異常指令的下一條指令的