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技術(shù)分離

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DDR 測試系列之二—— WaveScan 技術(shù)分離 DDR2 的讀寫周期

測量DDR2存儲設(shè)備需要把讀/寫的訪問周期分離開來。在DDR2中通過Strobe和Data總線之間的關(guān)系可以區(qū)分出來讀和寫的操作。如圖1所示，在讀操作時Data和Strobe的跳變是同步的，而在寫操作時Strobe的跳變則領(lǐng)

測試測量
2018-06-04

ddr ddr2 wavescan 技術(shù)分離讀寫周期