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可靠的電容傳感器接口的模擬前端IC測量方法
隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電容傳感器在各個領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。電容傳感器以其高靈敏度、高分辨率和非接觸測量等優(yōu)點，在工業(yè)自動化、智能家居、醫(yī)療健康等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。然而，電容傳感器接口的測量精度和可靠性一直是研究的熱點和難點。模擬前端IC(集成電路)作為電容傳感器接口的核心部件，其測量方法的選擇和優(yōu)化對于提高電容傳感器的性能至關(guān)重要。本文將對目前用于可靠的電容傳感器接口的模擬前端IC測量方法進行綜述和分析。
