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簡(jiǎn)述LCR測(cè)試儀的測(cè)試原理
LCR測(cè)試儀能準(zhǔn)確并穩(wěn)定地測(cè)定各種各樣的元件參數(shù)，主要是用來測(cè)試電感、電容、電阻的測(cè)試儀。它具有功能直接、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，能以較低的預(yù)算來滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)、電子維修業(yè)對(duì)器件的測(cè)試要求。 L
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簡(jiǎn)述初粘力測(cè)試儀的測(cè)試原理
初粘力測(cè)試儀又可稱為初粘測(cè)試儀、膠帶黏性測(cè)試儀。 初粘力測(cè)試儀的測(cè)試采用斜面滾球法（斜面滾球法原理：將一鋼球滾過平放在傾斜板上的膠粘帶粘性面，根據(jù)規(guī)定長(zhǎng)度的粘性面能夠粘住的最大鋼球尺寸，評(píng)價(jià)其初粘
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衛(wèi)星通訊的通道仿真和測(cè)試原理
當(dāng)今正在開發(fā)的先進(jìn)寬帶通信衛(wèi)星的設(shè)計(jì)、制造和部署成本都較高。衛(wèi)星設(shè)計(jì)者盡量增加衛(wèi)星的有效載荷能力，以便在投入使用之后能夠最大限度地獲取利潤(rùn)。 Shin公司的新一代互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議(IP)衛(wèi)星IPSTAR總?cè)萘窟_(dá)到了40Gb
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ICT測(cè)試原理
編輯筆記： 在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有
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超聲波硬度計(jì)的測(cè)試原理
超聲波硬度計(jì)的測(cè)試原理是什么?超聲波硬度計(jì)是一種常用的硬度測(cè)量?jī)x器，現(xiàn)在硬度測(cè)量已經(jīng)廣泛的應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)實(shí)驗(yàn)、國(guó)防建設(shè)行業(yè)中。超聲波硬度計(jì)具有高精度、高效率、結(jié)構(gòu)先進(jìn)、實(shí)用方便等多種的優(yōu)點(diǎn)。下面小
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淺析熒光定硫儀測(cè)試原理
熒光定硫儀 采用紫外熒光法測(cè)定原理。當(dāng)樣品被引入高溫裂解爐后，經(jīng)氧化裂解，其中的硫定量地轉(zhuǎn)化為二氧化硫，反應(yīng)氣經(jīng)干燥脫水后進(jìn)入熒光室。在熒光室中，部分二氧化硫受紫外光照后轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)的二氧化硫（SO2＊
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數(shù)字示波器在匝間短路測(cè)試中的測(cè)試原理和方法
高效、可靠的匝間短路測(cè)試方法對(duì)企業(yè)提高生產(chǎn)和檢測(cè)、維修的效率都有重要的意義。本文介紹數(shù)字示波器在匝間短路測(cè)試中的測(cè)試原理和方法。 目前市面上有不少專用的繞組匝間沖擊耐電壓測(cè)試儀，這類匝間沖擊耐電壓測(cè)試
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TDR測(cè)試原理
什么是TDR？ TDR是英文Time Domain Reflectometry 的縮寫，中文名叫時(shí)域反射計(jì)，是測(cè)量傳輸線特性阻抗的主要工具。TDR主要由三部分構(gòu)成：快沿信號(hào)發(fā)生器，采樣示波器和探頭系統(tǒng)。 TDR測(cè)試原理 TDR通
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相位噪聲基礎(chǔ)及測(cè)試原理和方法
摘要：相位噪聲指標(biāo)對(duì)于當(dāng)前的射頻微波系統(tǒng)、移動(dòng)通信系統(tǒng)、雷達(dá)系統(tǒng)等電子系統(tǒng)影響非常明顯，將直接影響系統(tǒng)指標(biāo)的優(yōu)劣。該項(xiàng)指標(biāo)對(duì)于系統(tǒng)的研發(fā)、設(shè)計(jì)均具有指導(dǎo)意義。相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試手段很多，如
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一文看懂lcr測(cè)試儀測(cè)試原理及主要功能
Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT(DeviceUnderTest)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。
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三階互調(diào)的計(jì)算及IP3測(cè)試原理和方法
三階交截點(diǎn)(IP3)是衡量通信系統(tǒng)線性度的一個(gè)重要指標(biāo)，他反映了系統(tǒng)受到強(qiáng)信號(hào)干擾時(shí)互調(diào)失真的大小。當(dāng)系統(tǒng)的IP3較高時(shí)，要精確測(cè)試IP3會(huì)比較困難，因?yàn)闇y(cè)試環(huán)境中各種因素(如測(cè)試配件的隔離度、線性度和匹配性等)都容易影響高IP3的測(cè)試。
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