-
利用測(cè)試排序儀器降低測(cè)試成本
越來(lái)越小的利潤(rùn)空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本，包括測(cè)試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測(cè)試排序器的儀器會(huì)起到作用。為了采取更有效的測(cè)試手段來(lái)提高利潤(rùn)空間，制造商要考慮新的測(cè)試范例以及構(gòu)建測(cè)
-
如何加快MIMO測(cè)試速度和降低測(cè)試成本
本文提供一些MIMO功率測(cè)量的要點(diǎn)及建議，能夠降低測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間，以及提高測(cè)試精度。
-
通過(guò)先進(jìn)的校準(zhǔn)測(cè)試方法降低移動(dòng)設(shè)備的成本
廠商的測(cè)試成本包括操作員、夾具和測(cè)試設(shè)備本身成本，還有標(biāo)準(zhǔn)夾具無(wú)法提供而又必需的輔助連接產(chǎn)品(touches)方面所需的勞動(dòng)力成本。移動(dòng)設(shè)備的測(cè)試成本將隨著測(cè)試時(shí)間正比例變化。能夠成功地減少測(cè)試時(shí)間的廠商將能夠有效地降低成本。
-
電子及電工測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)分析
這些年來(lái)，由于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)的高精度和高性能產(chǎn)品對(duì)元器件的質(zhì)量有比較高的要求，因此元器件等產(chǎn)品的高可靠性就成為人們考考慮的主要問(wèn)題，處于對(duì)這種情況的考慮，基于目前測(cè)試技術(shù)的提高，我們將探討一下將來(lái)各方面測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)。
- 了解PI門(mén)柵極驅(qū)動(dòng)器，挑戰(zhàn)趣味拼圖游戲
- MPS粉絲團(tuán)招募，邀您解鎖新能源電源“芯”技術(shù)
- 我與貿(mào)澤不得不說(shuō)的秘密——BOM與搜索功能，讓選型和采購(gòu)更絲滑更高效
- 加入Vishay電子學(xué)習(xí)社，優(yōu)質(zhì)資源限時(shí)免費(fèi)放送
- STM32H5系列高性能MCU，卓越性能和高安全性超乎你想象
- 華邦電子與萊迪思聯(lián)合技術(shù)論壇即將來(lái)襲，21ic邀你來(lái)報(bào)名
- AMD自適應(yīng)與嵌入式產(chǎn)品技術(shù)日空降北京，21ic邀你來(lái)報(bào)名
